Název: Aplikace transmisní elektronové mikroskopie s vysokým rozlišením pro strukturní analýzu nanovláken
Překlad názvu: Application of high resolution transmission electron microscopy for structure analysis of nanowires
Autoři: Kachtík, Lukáš ; Sháněl, Ondřej (oponent) ; Kolíbal, Miroslav (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2016
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]
Diplomová práce se zabývá strukturní analýzou polovodičových nanovláken za pomocí transmisní elektronové mikroskopie. Představena je konstrukce mikroskopu, jeho základní módy zobrazování a funkce jednotlivých prvků v těchto módech. V experimentální části jsou diskutovány výsledky měření několika germaniových nanovláken s důrazem na jejich krystalografickou strukturu a orientaci. This diploma thesis deals with the structural analysis of semiconductor nanowires by transmission electron microscopy. The construction of microscope is introduced together with its basic imaging modes and with the function of each construction element in these modes. In the experimental part the results of analysis of several germnaium nanowires are discussed, with emphasis on their crystallographic structure and orientation.
Klíčová slova: germanium; nanovlákna; nanočástice; TEM; transmisní elektronový mikroskop; zlato; germanium; gold; nanoparticles; nanowires; TEM; transmission electron microscope

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/59574

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-241698


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce