host ::
| Hlavní stránka > Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce > Analýza ultratenkých vrstev metodami SIMS a TOF-LEIS |
Název:
Analýza ultratenkých vrstev metodami SIMS a TOF-LEIS
Překlad názvu: Ultrathin film analysis by SIMS and TOF-LEIS
Autoři: Duda, Radek ; Lörinčík, Jan (oponent) ; Bábor, Petr (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2008
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]
Klíčová slova: hloubkové profilování; SIMS; TOF-LEIS; depth profiling; SIMS; ToF-LEIS
Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/15415
Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-228253
Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
Překlad názvu: Ultrathin film analysis by SIMS and TOF-LEIS
Autoři: Duda, Radek ; Lörinčík, Jan (oponent) ; Bábor, Petr (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2008
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]
Klíčová slova: hloubkové profilování; SIMS; TOF-LEIS; depth profiling; SIMS; ToF-LEIS
Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/15415
Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-228253
Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
Záznam vytvořen dne 2016-06-03, naposledy upraven 2022-09-04.