Název: Využití mikroskopu k diagnostice struktury materiálu a poruch u el. zařízení
Překlad názvu: Using the Microscope for diagnostics of Structure of Materials and Fault El. Equipment
Autoři: Cvak, Jan ; Hájek, Vítězslav (oponent) ; Veselka, František (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2015
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: diagnostické metody; inovace; Kluzný kontakt; komutátor; lamela; nanomateriál; optický mikroskop; rastrovací mikroskop; struktura materiálu; uhlíkový kartáč; carbon brushes; commutator; diagnostic methods; innovation; lamella; material structure; nanomaterials; optical microscope; scanning microscope; Sliding contacts

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/39147

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-221280


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
 Záznam vytvořen dne 2016-06-03, naposledy upraven 2022-09-04.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet