Název: Automatizace měření Zenerových referencí
Překlad názvu: Meaurement process automatization of Zener reference
Autoři: Bábek, Tomáš ; Nováková Zachovalová, Věra (oponent) ; Havlíková, Marie (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2011
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Tato práce se zabývá metrologií se specializací na stejnosměrné napětí. V úvodu práce jsou vysvětleny pojmy z oboru metrologie, přehled jednotek SI a vysvětlení pojmu etalonu a jeho druhů. Jsou zde popsány primární etalony stejnosměrného napětí na fyzikálních principech Zenerovy diody a Josephsonova jevu. Ve spolupráci s Metrologickým ústavem ČMI Brno je tato práce zaměřena na automatizaci měření Zenerových referencí (ZRS). Jejím cílem je zautomatizovat měření Zenerových referencí a jejich propojení s Josephsonovým napětím (JVS) pomocí skeneru. Pro toto je zapotřebí zjistit offsety, které můžou vzniknout na kanálech skeneru. Je tu vytvořen teoretický rozbor měření na skeneru a jejich nejistot. Cílem řešení je vypočet offsetů kanálů skeneru z každodenního automatického měření soustavy Zenerových referencí (ZRS). Pro měření byl použit program LabView a pro výpočet dat z naměřených hodnot program Matlab. Tato práce má časově ulehčit při měření referencí stejnosměrných napětí a změřit hodnoty etalonů stejnosměrného napětí a stanovit offsety kanálů na skeneru. V jejím závěru jsou shrnuty offsety naměřené na jednotlivých kanálech skeneru. This thesis deals with metrology specialized to DC voltage. In the begining of thesis is explanation of technical terms from metrology, summarization of units from International System and explanation of the standards and its kinds in the context of metrology. Primary standards of DC voltage based on Zener diodes and Josephson effect are described as well. In cooperation with Czech metrology institute in Brno this work is focused on automatization of measuring Zener reference standards (ZRS). Goal of this project is to automatize the measuring of Zener reference standards and its relationship with Josephson voltage system using scanner. To do this, there is a need to find out offsets, that can develop on scanner's channels. There is a theoretical analysis of measuring made on the scanner and their uncertainties. Aim of the solution is computation of scanner channels offsets using everyday automatic measuring the system of Zener reference standards (ZRS). For measuring the LabView was used and for computing the data from measured values the Matlab was used. This thesis should short the time needed when measuring DC voltage references, measure values of DC voltage standards and set the scanner channels offsets. In the end there is a summarization of offsets measured on individual scanner channels.
Klíčová slova: etalon; JVS; Metrologie; offset.; reference; skener; stejnosměrné napětí; ZRS; DC voltage; JVS; Metrology; offset.; reference; scanner; standard; ZRS

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/2000

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-219317


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce