Original title: Studium šumových charakteristik detektorů radioaktivního záření
Translated title: Analysis of noise characteristics of radioactive emission detectors
Authors: Šik, Ondřej ; Pfeifer, Václav (referee) ; Andreev, Alexey (advisor)
Document type: Master’s theses
Year: 2009
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [cze] [eng]
Hlavním cílem této Diplomové práce je popis vlivu ozáření CdTe detektorů světlem o různých vlnových délkách a vlivům vyšších pracovních teplot na jejich nízkofrekvenční šumové charakteristiky. CdTe je velmi progresivním materiálem vhodným pro detekci ionizujícího záření a jsou také vhodné pro nasazení ve fotovoltaice. Měřením šumových charakteristik bylo zjištěno, že v oblasti nízkých frekvencí dominuje 1/f šum. Pro studium šumových vlastností bylo použito více vzorků. Pro všechny testované vzorky byla zjištěna stejná vlnová délka 548nm, na kterou jsou detektory nejvíce citlivé. Z naměřených charakteristik jsme schopni posoudit výrobní kvalitu těchto detektorů a jejich citlivost na osvícení a změnu provozních charakteristik CdTe detektorů. Změřená data byla zpracována programem EasyPlot, jejichž výstupem jsou grafy nízkofrekvenční spektrální hustoty šumu. Tyto charakteristiky můžeme porovnávat a z nich vyvodit podobnost jednotlivých testovaných vzorků. The main goal of this Master’s thesis is to describe relationship between low frequency noise spectral characteristics of Cadmium-Telluride radiation detectors depending on applied voltage and detectors reaction to illumination of various wavelengths. Also, the reaction and influence of higher operating temperatures were investigated. The noise measurements shown that the dominant noise type at low frequencies is the 1/f noise. Several samples with different resistivity were tested. By comparing results, we are able to estimate the quality of detectors and their sensibility to illumination and higher operating temperatures. We have found that all the studied CdTe detectors are sensitive to one particular wavelength of 548nm. Resulting data were processed by EasyPlot program that provided graphical representation of spectral noise characteristics. All measured characteristics of tested samples are compared and it’s estimated the similarity between the samples.
Keywords: 1/f noise; Cadmium; CdTe radiation detector; illumination sensitivity of CdTe; metal-semiconductor; spectral noise density; Tellur; 1/f šum; Cadmium; Cdte detektory záření; citlivost na ozáření CdTe; přechod kov-polovodič; spektrální napěťová hustota šumu; Tellur

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/10232

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-218099


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Master’s theses