Název:
Studium elektrických vlastností tenkých polymerních vrstev
Překlad názvu:
Study of electrical properties of thin polymer films
Autoři:
Pospíšil, Jan ; Vala, Martin (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce) Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok:
2010
Jazyk:
cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická
Abstrakt: [cze][eng]
Práce je zaměřena na studium elektrických a dielektrických vlastností tenkovrstvých organických materiálů, které mohou být využity jako aktivní vrstva fotovoltaických článků. Zejména byly studovány vlastnosti vrstev na podložkách z PET (popř. skla), které jsou tvořeny tenkou aktivní vrstvou polymethylfenylsilanu (PMPSi) nebo deriváty diketopyrrolpyrrolu (DPP). Na vybraném vzorku byly nejprve měřeny volt-ampérové charakteristiky a závislosti proudu na čase při konstantním napětí (relaxační závislosti V-A charakteristik). Nakonec byly proměřeny frekvenční závislosti (impedanční spektra) a také jejich relaxační závislosti. Naměřená data byla vyhodnocena pomocí metod fraktální analýzy v programu HarFA. Získané výsledky budou využity k optimalizaci vlastností fotovoltaických článků.
The thesis is focused on the study of electric and dielectric properties of thin-film organic materials that can be used as an active layer of photovoltaic cells. Primarily were studied the properties of the layers on the PET or glass substrate, which consist of a thin active layer of polymethylphenylsilane (PMPSi) or derivatives of diketopyrrolpyrrole (DPP). On a selected sample were first measured current-voltage characteristics and current dependences on time at constant voltage (relaxation characteristics). Finally were measured frequency dependences (impedance spectra) and their relaxation characteristics too. The measured data were evaluated using the methods of fractal analysis in HarFA. The results will be used to optimize the properties of photovoltaic cells.
Klíčová slova:
Fourierova transformace; fraktální analýza; Haarova transformace; impedanční spektroskopie; měření šumů; transientní měření; Volt-ampérová charakteristika; Current-voltage characteristic; Fourier transformation; fractal analysis; Haar transformation; impedance spectroscopy; signal noise measurements; transient response analysis
Instituce: Vysoké učení technické v Brně
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/58