Název:
Response of track-etch based let spectrometer to high energy protons
Překlad názvu:
Odezva stopového LET spektrometru k vysokoenergetickým protonům
Autoři:
Jadrníčková, Iva ; Spurný, František Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Dny radiační ochrany /XXVI./, Luhačovice (CZ), 2004-11-01 / 2004-11-05
Rok:
2004
Jazyk:
eng
Abstrakt: [eng][cze] Risk from ionizing radiation depend both on the radiation quantity and the radiation quality.The radiation quality is characterized by the methods and the procedures of microdosimetry. Basic experimental microdosimetry approach is based on the use of tissue equivalent proportional counters. However, in some cases their use can be compromised, for example at high dose rates and/or in the presence of very intense low LET component in the radiation field to be characterized. For such purposes, the microdosimetry method based on a polyallyldiglycolcarbonate (PADC) chemically etched track-etch detectors (TED) was developedNebezpečí z ionizujícího záření závisí jak na kvantitě tak i na kvalitě záření. Kvalita záření je charakterizována metodami a postupy mikrodozimetrie. Základní metoda experimentální mikrodosimetrie je založen na použití tkáňově ekvivalentních proporcionálních počítačů. V některých případech však jejich použití není možné, například pro charakterizaci vysokých dávkových příkonů a/nebo v přítomnosti velmi intenzivní komponenty radiačního pole s nízkým LET. Pro tyto účely byla vyvinuta mikrodozimetrická metoda založená na polyallyldiglycolcarbonatových (PADC) detektorech chemicky leptaných stop(TED)
Klíčová slova:
ionizing radiation; microdosimetry; track-etch detectorc Číslo projektu: CEZ:AV0Z1048901 (CEP), GA202/04/0795 (CEP), KSK4055109 (CEP) Poskytovatel projektu: GA ČR, GA AV ČR Zdrojový dokument: Sborník rozšířených abstraktů. XXVI. Dny radiační ochrany, ISBN 80-01-03076-8
Instituce: Ústav jaderné fyziky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0009855