Název:
SMV-2012-19: Topografie povrchů tenkých polymerních vrstev
Překlad názvu:
SMV-2012-19: Topography of thin polymer films
Autoři:
Urbánek, Michal Typ dokumentu: Výzkumné zprávy
Rok:
2012
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] Měření topografie a vyhodnocení vlastností tenkých polymerních vrstev, které byly naneseny na křemíkové a křemenné substráty. Měření byla provedena mikroskopem atomárních sil v kontaktním režimu. Ze získáných dat byla vyhodnocena drsnost jednotlivých vzorků. Současně byla také provedena analýza jednotlivých fází polymerů ve vrstvách s pomocí měření laterálních sil.Topography measurement and properties' evaluation of thin polymer films deposited on silicon and quartz glass substrates. Measurements were carried out by atomic force microscopy (AFM)in contact mode. The roughness of polymer films were determined. Simultaneously analysis of individual phases in polymers was done by measurement of lateral forces.
Klíčová slova:
atomic force microscopy; polymers
Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0232039