Hlavní stránka > Zprávy > Výzkumné zprávy > SMV-2013-25: Vypracování a ověření metodiky fyzikální realizace optických tenkých vrstev pro interferometry
Název:
SMV-2013-25: Vypracování a ověření metodiky fyzikální realizace optických tenkých vrstev pro interferometry
Překlad názvu:
SMV-2013-25: Creating and verification of the methodology for thin layer optical coating production for laser interferometers
Autoři:
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich Typ dokumentu: Výzkumné zprávy
Rok:
2013
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] Posouzení a analýza spektrálních vlastností systému tenkých vrstev a výzkum a modelování možností realizace optických vrstev pro komponenty interferometrických jednotek splňujících zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem a ověření reprodukovatelnosti.Analysis of spectral properties of thin layer coatings and a feasibility study to determine the possibility of production of filters with desired spectral properties. Subsequent verification of the theoretical modelling by thin layer coating production by means of electron beam evaporation and verification of reproducibility. In particular non-polarizing beamsplitters, depolarization coatings for retroreflectors and various AR coatings are studied.
Klíčová slova:
e-beam evaporation; multilayer coatings; thin film coatings
Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0231992