Název: Pokročilé interferometrické systémy pro měření v nanotechnologiích
Překlad názvu: Advanced Laser Measuring Systems in Nanometrology
Autoři: Lazar, Josef ; Hrabina, Jan ; Holá, Miroslava ; Vychodil, M.
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: LASER53, Třešť (CZ), 2013-10-30 / 2013-11-01
Rok: 2013
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: dimensional metrology; interferometry; nanometrology; positioning
Číslo projektu: TA02010711 (CEP), TE01020233 (CEP), ED0017/01/01
Poskytovatel projektu: GA TA ČR, GA TA ČR, GA MŠk
Zdrojový dokument: Sborník příspěvků multioborové konference LASER53, ISBN 978-80-87441-10-7

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0227655

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-166199


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2013-12-26, naposledy upraven 2021-11-24.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet