Název: Fast simulation of ToF spectrometers
Autoři: Oral, Martin
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./, Skalský dvůr (CZ), 2012-06-25 / 2012-06-29
Rok: 2012
Jazyk: eng
Abstrakt: A fast simulation method was developed for analysis of time-of-flight spectrometers and it has been successfully used to optimize parameters of a real instrument. In the general case, the function of a time-of-flight spectrometer is best modeled using the Monte Carlo method, That involves calculation of a high number of ion trajectories, which is time consuming. We have found a way to reduce the calculation time greatly by introducing a simplification and using pre-computed data independent on the ion mass and charge. The procedure makes it computationally feasible to run iterative optimizations. By comparing the results with those of a realistic simulation on a selected case, we have verified that there is no noticeable influence on the results.
Klíčová slova: fast simulation method; ToF SIMS
Číslo projektu: ED0017/01/01
Poskytovatel projektu: GA MŠk
Zdrojový dokument: Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, ISBN 978-80-87441-07-7

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0215695

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-135999


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2013-01-16, naposledy upraven 2021-11-24.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet