|
|
Leptání SiO2 pomocí depozice Si
Pokorný, David ; Bábor, Petr (oponent) ; Polčák, Josef (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá jednou z nejzajímavějších reakcí probíhajících v pevné fázi v UHV podmínkách, a to rozkladem SiO2 podle rovnice Si + SiO2 = 2SiO. Využívá dosud nevyzkoušený postup - dodání Si atomů nikoli ze substrátu, ale přímou depozicí na povrch oxidu. Jako zdroj křemíkových atomů byla použita efuzní cela. K objasnění principu této reakce bylo využito jak depozice křemíku na SiO2 substrát za pokojové teploty, tak za zvýšené teploty. Byla stanovena aktivační energie a teplotní závislost rychlosti této reakce. Také byla ověřena možnost leptání SiO2 pomocí depozice Si za UHV podmínek. Připravené vzorky byly zkoumány pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie a mikroskopie atomárních sil.
|
|
|
Tenkovrstvé systémy
Rada, Vojtěch ; Sedlaříková, Marie (oponent) ; Zatloukal, Miroslav (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce je zaměřena na problematiku technologie vytváření tenkých vrstev. V úvodu se zabývá obecnou teorií této problematiky, rozebírá různé metody a způsoby nanášení tenkých vrstev, kdy je kladen větší důraz na metodu magnetronového naprašování, která je využita v experimentální části práce, a popisuje procedury, které jsou prováděny před a po samotném nanesením tenké vrstvy. V praktické části práce je popsáno magnetronové naprašovací zařízení NP-12 a jeho ovládání. Následně je proveden výběr a úprava vhodných substrátů, depozice tenkovrstvého systému pomocí magnetronového naprašování a analýza vlastností deponovaných tenkovrstvých vzorků.
|
|
|
Imaging Reflectometry Measuring Thin Films Optical Properties
Běhounek, Tomáš ; Spousta, Jiří (oponent) ; Zicha,, Josef (oponent) ; Kotačka, Libor (oponent) ; Druckmüller, Miloslav (vedoucí práce)
An innovative method of evaluating thin film optical properties, the so called {\it Imaging Reflectometry} based on principles of spectroscopic reflectometry is presented in this thesis.\ Reflectance spectra of the film is extracted from intensity maps recorded by CCD camera, that correspond to chosen wavelengths, either over selected area or at one point.\ A theoretical model of reflectance is fitted to experimental data (the extracted reflectance spectra) by applying Levenberg~-~Marquardt algorithm in order to determine optical properties, their accuracy and reliability factor used to quantify a convergence successfulness of the reflectance model and hence the quality of the acquired results at given settings in a sense of a sensitivity analysis.
|
|
|
Non-Destructive Local Diagnostics of Optoelectronic Devices
Sobola, Dinara ; Pína,, Ladislav (oponent) ; Pinčík,, Emil (oponent) ; Tománek, Pavel (vedoucí práce)
To obtain novel materials for emerging optoelectronic devices, deeper insight into their structure is required. To achieve this, the development and application of new diagnostic methods is necessary. To contribute to these goals, this dissertation thesis is concerned with local diagnostics, including non-destructive mechanical, electrical and optical techniques for examining the surface of optoelectronic devices and materials. These techniques allows us to understand and improve the overall efficiency and reliability of optoelectronic device structures, which are generally degraded by defects, absorption, internal reflection and other losses. The main effort of the dissertation work is focused on the study of degradation phenomena, which are most often caused by both global and local heating, resulting in increased diffusion of ions and vacancies in the materials of interest. From a variety of optoelectronic devices, we have chosen two representative devices: a) solar cells - a large p-n junction device, and b) thin films - substrates for micro optoelectronic devices. In both cases we provide their detailed surface characterization. For the solar cells, scanning probe microscopy was chosen as the principal tool for non-destructive characterization of surface properties. This method is described, and both positive and negative aspects of the methods used are explained on the basis of literature review and our own experiments. An opinion on the use of probe microscopy applications to study solar cells is given. For the thin films, two interesting, from the stability point of view, materials were chosen as candidates for heterostructure preparation: sapphire and silicon carbide. The obtained data and image analysis showed a correlation between surface parameters and growth conditions for the heterostructures studied for optoelectronic applications. The thesis substantiates using these prospective materials to improve optoelectronic device performance, stability and reliability.
|
|
|
Tenké vrstvy oxidu titaničitého připravené elektrochemicku cestou
Janov, Pavel ; Zatloukal, Miroslav (oponent) ; Sedlaříková, Marie (vedoucí práce)
Předkládaná práce se zabývá přípravami aktivních elektrochromických vrstev oxidu titaničitého a jejich interkalačních vlastností. Elektrodepozicí byla vytvořena aktivní vrstva na skleněných substrátech pokryté tenkou transparentní elektronovou vrstvou In2O3:Sn (ITO). Porovnávali se funkční vrstvy připravené elektrolyticky s funkčními vrstvami připravené vakuovými metodami. Dále se vyhodnocovali jejich elektrodové vlastnosti v elektrolytech obsahující lithium.
|
|
|
Selektivní růst kovových materiálů.
Šimíková, Michaela ; Schneeweiss, Oldřich (oponent) ; Čechal, Jan (vedoucí práce)
Diplomová práce pojednává o studiu selektivního růstu tenkých vrstev kobaltu na Si(111) s tenkou vrstvou oxidu křemičitého na mřížkách, které byly vytvořeny metodou fokusovaného iontového svazku, a o růstu a morfologii tenké vrstvy železa rostoucí na substrátu Si/SiO2 bez úpravy. Dále jsou zkoumány vrstvy a-C:H, vliv depozičních parametrů na jejich vlastnosti a poměr vazeb sp2 a sp3. Pro analýzu těchto vrstev jsou použity metody XPS, AFM a SEM.
|
|
|
Eliminace degradačních procesů kovových tenkých vrstev
Danovič, Jakub ; Šubarda, Jiří (oponent) ; Šimonová, Lucie (vedoucí práce)
Táto práca sa zaoberá problematikou tenkých vrstiev, ich chovaniu v určitých prostrediach a ochrane týchto vrstiev pred nežiaducimi degradačnými procesmi. Kovové tenké vrstvy vytvárame pomocou špeciálnych metód fyzikálnych alebo chemických za prítomnosti vákua. Nanášanie prebieha na správne očistený substrát z rôzneho materiálu, napríklad sklo keramika či iný kov. Tieto vrstvy degradujú za pôsobenia vlhkosti, tepla či iných vplyvov. Na to aby sa zabránilo degradácii tenkých vrstiev sa používajú ochranné filmy z rôznych materiálov na rôznych bázach.
|
|
|
Estimation of mechanical properties of thin films using numerical modelling of experimental tests
Tinoco Navarro, Hector Andres ; Jančo,, Roland (oponent) ; Klusák,, Jan (oponent) ; Hutař, Pavel (vedoucí práce)
Bulge testing is an experimental technique that involves the use of numerical and analytical approaches to characterize the mechanical properties of thin films. This thesis addresses some limitations found in the classical models that describe the behavior of thin films subjected to this test. This required the development of new models and numerical strategies in order to determine several mechanical properties of monolayer and bilayer thin films under different structural conditions, such as elasticity, plasticity, and fracture. By combining finite element analysis and classical analytical solutions, different methodologies for calculating the elastic properties (E and v), residual stresses, yield stress, and fracture toughness were proposed and validated. The mechanical properties of silicon nitride, aluminum, and gold films were characterized using load-deflection experimental data obtained from bulging measurements. The determined properties showed reasonable agreement with materials of known properties, which validated that the proposed methods in this work can be useful for estimating the mechanical properties of freestanding thin films.
|
|
|
Příprava modelu lidské kožní bariéry s využitím depozice tenkých lipidových filmů
Suciu-Šubert, Karina ; Pullmannová, Petra (vedoucí práce) ; Opálka, Lukáš (oponent)
Univerzita Karlova, Farmaceutická fakulta v Hradci Králové Katedra biofyziky a fyzikální chemie Student: Karina Suciu-Šubert Vedoucí: Mgr. Petra Pullmannová, Ph.D. Název diplomové práce: Příprava modelu lidské kožní bariéry s využitím depozice tenkých lipidových filmů Nejsvrchnější část lidské kůže - stratum corneum, která chrání tělo před vnějším prostředím, je tvořena zrohovatělými buňkami - korneocyty, které jsou obklopené extracelulární matrix vysoce uspořádaných lipidů: ceramidů (Cer), mastných kyselin a cholesterolu. Ochranná bariéra se neustále obnovuje dělením keratinocytů, které se diferencují na korneocyty a nakonec se z povrchu kůže odlučují. Korneocyty mají místo plazmatické membrány korneocytární obálku, která se skládá z bílkovinné části (např. involucrin) a jednomolekulární lipidové části tvořené převážně z ω-hydroxylovaných ceramidů, které jsou k bílkovinné části připojené kovalentními vazbami. Úkolem této diplomové práce byla příprava modelu lidské kožní bariéry s využitím depozice tenkých lipidových filmů. Byly vytvořeny 2 různé směsi lipidů: směs obsahující Cer NS a směs obsahující Cer EOS a NS. Směsi se nanášely na hydrofilní a hydrofobní substrát nastřikováním Linomatem V. Při nastřikování se měnilo množství lipidů, a tím i počet teoretických vrstev na substrátu. Další metodou...
|
|
|
Tenkovrstvé systémy
Rada, Vojtěch ; Sedlaříková, Marie (oponent) ; Zatloukal, Miroslav (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce je zaměřena na problematiku technologie vytváření tenkých vrstev. V úvodu se zabývá obecnou teorií této problematiky, rozebírá různé metody a způsoby nanášení tenkých vrstev, kdy je kladen větší důraz na metodu magnetronového naprašování, která je využita v experimentální části práce, a popisuje procedury, které jsou prováděny před a po samotném nanesením tenké vrstvy. V praktické části práce je popsáno magnetronové naprašovací zařízení NP-12 a jeho ovládání. Následně je proveden výběr a úprava vhodných substrátů, depozice tenkovrstvého systému pomocí magnetronového naprašování a analýza vlastností deponovaných tenkovrstvých vzorků.
|
host ::
RSS.