Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 53 záznamů.  začátekpředchozí44 - 53  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.04 vteřin. 
An influence of electron beam on thin oxide films
Kostyal, Michal ; Průša, Stanislav (oponent) ; Čechal, Jan (vedoucí práce)
This bachelor work deals with a study of the influence of electron beam of scanning electron microscope on the surface of the SiO2/Si (100) – sample. In the work the electron and atomic force microscopy briefly described. The main objective of experimental part is to describe variation in the brightness of sample SiO2/Si (100) in Scanning electron microscope images. In this study is found that on the sample surface are created objects few nm high. The rest of the work is then devoted to measuring the dependence of the object’s high on different variables. Experiments are generally based on the selective irradiation of the sample surface by scanning electron microscope, measurement of irradiated parts using atomic force microscope and evaluation in the application Gwyddion.
Vlastnosti cementových kompozitů s vláknovou výztuží
Jankech, Filip ; Sitek,, Libor (oponent) ; Bodnárová, Lenka (vedoucí práce)
Táto práca sa zaoberá zhrnutím poznatkov o možnosti využitia organických vlákien ako rozptýlenej výstuže do cementových kompozitov. Jedná sa konkrétne o zhrnutie poznatkov o druhoch a vlastnostiach syntetických a celulózových vlákien, ich vplyvoch na vlastnosti čerstvého a zatvrdnutého cementového kompozitu a konečne o popis požiarnej odolnosti cementových kompozitov a efektu organických vlákien na pôsobenie týchto kompozitov vo vysokých teplotách a v prítomnosti požiaru. Experimentálna časť má za úlohu overiť efekt celulózových vlákien na zvýšenie trvanlivosti cementového kompozitu pri vysokých teplotách.
Možnosti využití nanočástic různých kovů jako markerů pro imunoznačení ve skenovacím mikroskopu s autoemisní tryskou
EIBLOVÁ, Veronika
V dnešní době je elektronová mikroskopie používaná při studiu biologických objektů. Je to metoda, která umožnila studium mikrostruktur, ale i nanostruktur zkoumaných biologických objektů.Imunolokalizace patří mezi imunocytochemické metody, které umožňují lokalizovat antigeny na elektron ? mikroskopické úrovni za pomoci protilátek. Na protilátkách jsou navázány markery (nanočástice).Cílem mé práce bylo najít další vhodné markery, které budou viditelné ve skenovacím elektronovém mikroskopu s autoemisní tryskou. Takové markery navázat na protilátku a s ní provést imunolokalizaci na vhodném modelovém systému.
Kinetika doznívání scintilačních krystalů pro detektory elektronů v SEM
Schauer, Petr
V této práci je presentováno studium kinetiky doznívání monokrystalických scintilátorů YAG:Ce pro SEM. Základní veličiny určující kvalitu obrazu v SEM jsou kontrast, prostorové rozlišení a šum. Nicméně pro vyčíslení celkové kvality zobrazovacího systému je lepší detekční kvantová účinnost (DQE), neboť zahrnuje jak funkci přenosu modulace tak spektrum šumu. Z toho vyplývá, že detektor, který má mít vysokou DQE, by měl mít nejen vysokou účinnost a nízký šum, ale také dobré kinetické vlastnosti. S využitím výsledů doznívání katodoluminiscence je presentován schematický kinetický model zářivých a nezářivých přechodů v monokrystalech YAG:Ce.
Segmentový ionizační detektor pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop
Schneider, Luděk
Práce se zabývá vývojem a realizací segmentového ionizačního detektoru pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop (ESEM). Součástí práce je studium detekce signálních elektronů pro různé velikosti a prostorové umístění ionizačního a detekčního objemu vymezeného segmentovými elektrodami detektoru.
Vlnově optické kontrasty v rastrovacím elektronovém mikroskopu
Seďa, Bohuslav
Práce se zabývá studiem vzniku a vlastností vlnově optických kontrastů v rastrovacím elektronovém mikroskopu s pomalými elektrony.
X-ray microanalysis in ESEM and LV SEM
Autrata, Rudolf ; Jirák, Josef ; Špinka, Jiří
The scattering of primary electrons to so-called skirt, appearing in the range of pressures used in regimes of LV SEM (low vacuum) as well as in ESEM, has no substantial influence on the spatial resolution for commonly used types of imaging in the scanning electron microscope. It demonstrates itself just as a higher share of the noise signal. What is more, it brings known substantial advantages, as that no preparation of modification of non-conductive samples is needed and observation of liquid phase containing specimens is made possible.
První zkušenosti s nízkonapěťovým elektronovým mikroskopem
Nebesářová, Jana
Je krátce popsán nízkonapěťový elektronový mikroskop LV EM 5 vyráběný firmou Delong Instruments a jsou prezentovány první zkušenosti s přípravou biologických preparátů pro pozorování v tomto mikroskopu. Je to unikátní přístroj, který je schopen v lékařském a biologickém výzkumu nahradit vysokonapěťový TEM.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 53 záznamů.   začátekpředchozí44 - 53  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.