|
|
Structure and properties of DLC layers for industrial applications
Mates, Tomáš ; Ledinský, Martin ; Vetushka, Aliaksi ; Pikna, Peter ; Fejfar, Antonín ; Marek, A. ; Vyskočil, J. ; Erichsen, J. ; Dawah, P.
Diamond-like carbon (DLC) layers based on amorphous carbon are used for wide range of applications, mostly for mechanical protection of various industrial components. We examined DLC layers at micro- and nanoscale by two independent microscopic techniques: Scanning Electron Microscopy (SEM) and Atomic Force Microscopy (AFM) with a good agreement. We compared DLC layers grown on steel substrate and Si wafer and found similarly structured clusters and a certain difference in the density of nucleation centres. The measurements of local mechanical properties by the AFM tip revealed that the Si wafer behaves as softer material compared to the growing DLC nanoclusters that also exhibit lower values in the map of the relative local friction coefficient. Finally, we observed changes in the Raman spectra of the DLC exposed to annealing at ambient conditions and found a gradual shift from the diamond phase to the graphite phase as a function of increasing temperature.
|
|
|
Souhrnný report výsledků smluvního výzkumu mezi FZU AV ČR, v.v. i. a HVM Plasma s.r.o. za rok 2016
Mates, Tomáš ; Fejfar, Antonín ; Ledinský, Martin ; Vetushka, Aliaksi ; Pikna, Peter ; Bauerová, Pavla
Několika diagnostickými metodami byly zkoumány vzorky ochranných vrstev na bázi DLC (Diamond-like-Carbon) na různých substrátech (testovací tělíska i reálné součástky). Pomocí Ramanovské spektroskopie byly vyhodnocovány vazby ve vzorcích pro bližší určení strukturních variací a povrchových modifikací, a to jak pro čerstvě připravené vzorky, tak zejména pro vzorky které prošly různými zátěžovými testy.\nSkenovacím elektronovým mikroskopem (SEM) byla zkoumána povrchová struktura vrstev v různých místech vzorků a vyhledávána vhodná testovací místa pro následnou analýzu pomocí Mikroskopu atomárních sil (AFM). Mikroskopem AFM ve speciálních režimech byly měřeny mapy lokálních mechanických vlastností (tření, adheze hrotu, disipace energie, atd.). Na vybraném vzorku byla metodou Focussed Ion Beam (FIB) analyzována struktura průřezu vzorku a dále bylo zdokumentováno prvkové složení v různých tloušťkách vrstvy metodou Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).\n
|
|
| |
|
|
Surface-related 2D conductivity of nanocrystalline diamond in-plane nanowires
Rezek, Bohuslav ; Babchenko, Oleg ; Vetushka, Aliaksi ; Verveniotis, Elisseos ; Ledinský, Martin ; Fejfar, Antonín ; Kromka, Alexander
Diamond is an attractive material for nanoelectronics, biological interfaces and electrical transducers. Small device dimensions are highly demanded for higher sensitivity, parallelism, remote sensing and reduced costs. Recently we have demonstrated that directly grown nanocrystalline diamond micro-channels (down to 5 um widths) are feasible and fully operational as field-effect transistors using H-terminated surface conductivity.
|
host ::
RSS.