Název:
Studium krystalů rentgenovou difrakcí
Překlad názvu:
X-ray diffraction studies of crystals
Autoři:
Hybler, Jiří Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Škola růstu krystalů 2010, Bořetice (CZ), 2010-08-31 / 2010-09-01
Rok:
2010
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] Studie přináší stručnou informaci o možnostech jednotlivých metod RTG difrakce. Popsána je metoda rotační, Weissenbergova, precesní a Laueho, a dále monokrystalová difraktometrie. Dále jsou zmíněny metody rentgenové topografie (Schulzova, Berg-Barrettova, Langova). Přednáška a článek slouží k přehledné informaci pracovníků, kteří sami s metodami nepracují.The study brings short review of methods of X-ray diffraction, namely rotation, Weissenberg, precession, Laue, and single crystal diffractometry. Methods of X-ray topography (Schulz, Berg-Barrett and Lang) are briefly mentioned. The lecture and paper are intended to inform researchers non-familiar with methods about their current developments.
Klíčová slova:
diffractometer; single crystal methods; X-ray diffraction; X-ray topography Číslo projektu: CEZ:AV0Z10100521 (CEP), GA205/07/0302 (CEP) Poskytovatel projektu: GA ČR Zdrojový dokument: Škola růstu krystalů 2010, ISBN 978-80-254-7238-5
Instituce: Fyzikální ústav AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0006657