Název: Porovnání mikroskopických diagnostických metod
Překlad názvu: Comparison of microscopic diagnostic methods
Autoři: Veselý, Jakub ; Tihlaříková, Eva (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2012
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: bezkontaktní režim.; hrot; kontaktní režim; mikroskopie atomárních sil; mikroskopie rastrující sondou; primární elektrony; Rastrovací elektronová mikroskopie; sekundární elektrony; transmisní elektronová mikroskopie; zpětně odražené elektrony; atomic force microscopy; backscattered electron; contact mode; non-contact mode.; primary elektron; Scanning electron microscopy; scanning probe microscopy; secundary elektron; tip; transmission electron microscopy

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/72310

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-581634


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce
 Záznam vytvořen dne 2024-04-02, naposledy upraven 2024-04-03.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet