Název:
Měření dynamických vlastností bipolárních tranzistorů
Překlad názvu:
Basic measurement of dynamic properties of bipolar transistors
Autoři:
Repčík, Juraj ; Šteffan, Pavel (oponent) ; Dřínovský, Jiří (vedoucí práce) Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok:
2015
Jazyk:
cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze][eng]
Cieľom bakalárskej práce je rozobrať teoretický základ merania bipolárnych tranzistorov. V prvom rade statické vlastnosti BJT, nastavenie jednosmerných napätí a prúdov v elektrickom obvode (pracovný bod). Ďalej rozoberá meranie vybraných dynamických vlastností zosilňovača s bipolárnym tranzistorom. Teoretické poznatky sú prezentované na praktickom zapojení a laboratórnom meraní týchto vlastností s pripojenými laboratórnymi meracími prístrojmi. Meranie je automatizované pomocou počítača s vývojovým prostredím LabVIEW. Sú vyvinuté užívateľské programy na zmeranie V-A charakteristík bipolárneho tranzistora a meranie dynamických vlastností zosilňovača. Práca poukazuje na výhodný spôsob vývoja programového vybavenia pre automatizovanie merania pomocou grafického programovania v LabVIEW.
The aim of this bachelor thesis is to analyze theoretical basis of measurement bipolar transistors. First, this project focuses on the static parameters of a bipolar transistor, setting DC voltages and currents in an electric circuit (Q-point, operating point). Second it deals with measurement of selected dynamic properties of amplifier with bipolar transistor. Theoretical knowledge is presented on the practical circuit by a laboratory measurement of the selected properties. The measurement is automated using a computer with LabVIEW software. User programs are developed for measuring the V-A characteristics of a bipolar transistor and for measuring selected dynamic properties of the amplifier. The thesis points out a convenient approach in development of new software for automated measurement using graphical programming in LabVIEW.
Klíčová slova:
bipolárny; dynamické vlastnosti; LabVIEW; pracovný bod; tranzistor; bipolar; dynamic properties; LabVIEW; operating point; transistor
Instituce: Vysoké učení technické v Brně
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/40816