Název:
Určení hmotnostního podílu amorfní fáze pomocí rtg.difrakce
Překlad názvu:
Determination of the amount of the amorphous phase using x-ray diffraction
Autoři:
Málek, Tomáš ; Daniš, Stanislav (vedoucí práce) ; Kužel, Radomír (oponent) Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok:
2016
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] Používání rentgenové difrakce jako metody kvantitativní analýzy sebou nese komplikaci v podobě příspěvku amorfní fáze do pozadí naměřeného signálu, který ovlivňuje výsledné hodnoty. Tento příspěvek často není možné zanedbat, a proto je vhodné použít metodu, která umožní separaci tohoto příspěvku a případně určit podíl amorfní fáze v měřeném vzorku. Ačkoliv se rentgenová difrakce používá téměř výlučně pro měření krystalických vzorků, v případě měření práškové difrakce prakticky nelze vyloučit znečištění vzorku amorfní fází, která se v menší či větší míře bude vyskytovat v každém polykrystalickém vzorku. V této práci bude snaha nalézt metodu, či kombinaci metod, které umožňují určit podíl amorfní fáze, který potom může být využit k očištění výsledků kvantitativní analýzy od příspěvku amorfní fáze.Using quantitative analysis based on x-ray diffraction entails complication in the amorphous phase contribution to signal background which may affect results. Often it is impossible to ignore this contribution and thus is appropriately to use some method for separation of the amorphous phase contribution from signal eventually also determine amount of amorphous phase in the sample. Although x-ray diffraction is used for crystalline samples is almost inevitable keep sample clear from amorphous phase which is in all polycrystalline sample in some amount. In this thesis we will effort to determine method or combination of methods which is possible to use for determination of the amount of the amorphous phase that we can use for cleaning results of quantitative analysis from the amorphous phase contribution.
Klíčová slova:
amorfní fáze; kvantitativní analýza; rtg difrakce; amorphous phase; quantitative analysis; x-ray diffraction