Název: SWIR diagnostika s křemíkovými CCD a CMOS prvky pro TW jódový fotodisociační laser PALS
Překlad názvu: SWIR diagnostics with silicon CCD a CMOS elements for TW iodine fotodissociation laser PALS
Autoři: Kmetík, Viliam
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Laser 50, Třešť (CZ), 2010-10-04 / 2010-10-06
Rok: 2010
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
Vyspělá CCD a CMOS křemíková technologie dovoluje dokonalou diagnostiku intensity a fáze laserového paprsku ve viditelné a blízké infračervené oblasti. Pro SWIR lasery, zvláště iódove lasery pracující na vlnové délce 1315 nm se běžně používají jiné technologie s menším rozlišením, dynamikou a spolehlivostí ale podstatně vyšší cenou. Experimentálně jsme prokázali, že vhodné křemíkové CCD a CMOS prvky jsou i vzhledem k velice malé citlivosti na 1,3 micronu schopny spolehlivě detekovat toto záření a jsou vhodné pro vizualizaci a měření SWIR laserových svazků a také byly prozkoumány základní vlastnosti detektorů a jejich limity. Rozlišovací schopnost zkoumaných detektorů několikráte převyšovala parametry nám dostupných SWIR detektorů. Vybrané CCD a CMOS prvky byly modifikovány pro měření laserového svazku na vlnové délce 1,3 micronu s velkým rozlišením. Tyto prvky byly použity pro měření svazku impulsního jódovým fotodisociačním laseru PALS na 1315 nm s rozlišením 1390x1040 bodů. Mature silicon CCD and CMOS technologies provide right diagnostics of laser beam intensity and phase in visible and near infrared region. In case of SWIR lasers, particularly iodine lasers with working wavelength 1315 nm, other technologies with smaller resolution, dynamics a reliability but considerably higher price are currently used. Experimentally was shown, that suitable silicon CCD a CMOS elements are even contrary to very low sensitivity at 1,3 micron, capable reliably detect this radiation and are suitable for visualization and measurement of SWIR laser beams. Fundamental properties of detectors and their limits were studied.. Resolution of investigated detectors was few times bigger than resolution of available SWIR detectors. Selected CCD a CMOS elements were modified for measurement of laser beam at wavelength 1,3 micron with high resolution. These elements were used for beam measurement of iodine fotodissotiation laser PALS at 1315 nm with resolution of 1390x1040 points.
Klíčová slova: laser diagnostics; SWIR
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20430508 (CEP), LC528 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA MŠk
Zdrojový dokument: LA50, Sborník příspěvků multioborové konference Laser 50, ISBN 978-80-87441-03-9

Instituce: Ústav fyziky plazmatu AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0192148

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-42250


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav fyziky plazmatu
Konferenční materiály > Příspěvky z konference