Original title: Optické vlastnosti tenkých vrstev měřené metodou PDS
Translated title: Optical properties of thin films measured by PDS
Authors: Remeš, Zdeněk
Document type: Papers
Conference/Event: Česká fotovoltaická konference /3./, Brno (CZ), 2008-11-03 / 2008-11-05
Year: 2008
Language: cze
Abstract: [cze] [eng]
Popis spektrometru PDS s aplikacemi pro meření optické absorpce v tenkých vodivých oxidech a slunečních článcích. Description of the photothermal deflection (PDS) spectrometer used in the Institute of Physics of the ASCR. Applicatons include the optical absorption in thin conductive oxides and thin films solar cells.
Keywords: PDS; solar cell; TCO
Project no.: CEZ:AV0Z10100521 (CEP), LC510 (CEP), KJB100100623 (CEP), 509178, 38885, 19670
Funding provider: GA MŠk, GA AV ČR
Host item entry: Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference, ISBN 978-80-254-3528-1

Institution: Institute of Physics AS ČR (web)
Document availability information: Fulltext is available at the institute of the Academy of Sciences.
Original record: http://hdl.handle.net/11104/0170811

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-40017


The record appears in these collections:
Research > Institutes ASCR > Institute of Physics
Conference materials > Papers