Název: Usage Of Low Cost Digital Camera For Detecting Of Silicon Solar Cell Electroluminiscence
Autoři: Lepík, Pavel ; Vaněk, Jiří
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: This article analyses the existing methods both practically and theoretically used to detect defected surface area in solar cells. Various methods were used but by using an upgraded camera with CMOS sensor for carrying out the electroluminescence method, this has proven to have a very crucial impact on the results. Given the overall results and the acquired information, a procedure with a simple parameter can be setup to carry out the measurements. In addition to this a catalog was formed showing the defects occurring in mono and polycrystalline solar cells.
Klíčová slova: CMOS camera; defect detection; diagnostic methods; electroluminescence; photovoltaic cell; photovoltaics; silicon; solar cell
Zdrojový dokument: Proceedings of the 22st Conference STUDENT EEICT 2016, ISBN 978-80-214-5614-3

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/138299

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-393485


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2019-03-14, naposledy upraven 2019-03-14.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet