Název: Analysis of Baroque sculpture based on X-ray fluorescence imaging and X-ray\ncomputed tomography data fusion
Autoři: Vavřík, Daniel ; Kumpová, Ivana ; Vopálenský, Michal ; Lauterkranc, J.
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2017) /7./, Leuven (BE), 20170207
Rok: 2017
Jazyk: eng
Abstrakt: It is advantageous to combine information about geometry and the inner structure of historical artifacts with information about the elemental composition of decorative layers, typically covering historical wooden sculptures. X-ray computed tomography describing artifact structure is quite common and easy. Standard X-ray fluorescence (XRF) analysis of decorative layers is typically done for several selected spots of the artifact’s surface utilizing single pad detector. XRF imaging fully describing the surface’s elemental composition is commonly done for flat objects, while time consuming XRF tomography is applied to relatively small objects. It will be shown in this work that an effective fusion combination of XRF imaging and X-ray tomography describing the whole object can be realized even when using a limited number of XRF images.
Klíčová slova: cultural heritage; data fusion; X-ray computed tomography; X-ray flourescence imaging
Číslo projektu: LO1219 (CEP), DG16P02M022 (CEP)
Zdrojový dokument: 7th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2017), ISSN 1435-4934

Instituce: Ústav teoretické a aplikované mechaniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný na externích webových stránkách.
Externí umístění souboru: http://www.ndt.net/events/iCT2017/app/content/Paper/51_Vavrik.pdf
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0274645

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-373345


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav teoretické a aplikované mechaniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference
 Záznam vytvořen dne 2018-03-09, naposledy upraven 2018-03-09.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet