Název: Měření profilu koncentrace/složení na polovodičových nanovrstvách kontaktní metodou. (Measurement of concentration/composition profiles on semiconductor nanostructures with contract mothod)
Autoři: Walachová, Jarmila ; Zelinka, Jiří ; Vaniš, Jan ; Hulicius, Eduard ; Šimeček, Tomáš
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Konference českých a slovenských fyziků /12./, Ostrava (CZ), 1996-09-02 / 1996-09-06
Rok: 1997
Jazyk: cze
Klíčová slova: doping profiles; semiconductor heterojunctions
Číslo projektu: GA202/94/1056 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA ČR
Zdrojový dokument: Dvanáctá konference Českých a slovenských fyziků. Sborník příspěvků

Instituce: Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0113326

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-32316


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav fotoniky a elektroniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference