Hlavní stránka > Zprávy > Výzkumné zprávy > Metrologické navázání sekundárních etalonů frekvence pracoviště KMS Tehov. (Metrological traceability of the secondary frequency standards of the Tehov center)
Instituce: Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0113248