Název:
Design elektronového mikroskopu
Překlad názvu:
Design of the electron microscope
Autoři:
Švajdová, Anna ; Surman, Martin (oponent) ; Škaroupka, David (vedoucí práce) Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok:
2017
Jazyk:
cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze][eng]
Tématem diplomové práce je design skenovacího elektronového mikroskopu s fokusovaným iontovým svazkem. Práce se zabývá řešením designu krytů mikroskopu a přilehlého pracoviště operátora pro společnost Tescan Orsay Holding a.s.. Design je řešen jako první návrh směřující k budoucímu inovování designu celé produktové řady.
The theme of this diploma thesis is the design of a scanning electron microscope with a focused ion beam. Specifically, the thesis is focused on the design of the microscope covers and the adjacent workplace of the operator for Tescan Orsay Holding a.s.. Design is solved as the first proposal aimed at future innovation of the design of the entire product line.
Klíčová slova:
FIB; fokusovaný iontový svazek; mikroskopie; průmyslový design; SEM; skenovací elektronový mikroskop; FIB; focus ion beam; industrial design; microscopy; scanning electron microscope; SEM
Instituce: Vysoké učení technické v Brně
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/67341