Original title: Design elektronového mikroskopu
Translated title: Design of the electron microscope
Authors: Švajdová, Anna ; Surman, Martin (referee) ; Škaroupka, David (advisor)
Document type: Master’s theses
Year: 2017
Language: cze
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract: [cze] [eng]
Tématem diplomové práce je design skenovacího elektronového mikroskopu s fokusovaným iontovým svazkem. Práce se zabývá řešením designu krytů mikroskopu a přilehlého pracoviště operátora pro společnost Tescan Orsay Holding a.s.. Design je řešen jako první návrh směřující k budoucímu inovování designu celé produktové řady. The theme of this diploma thesis is the design of a scanning electron microscope with a focused ion beam. Specifically, the thesis is focused on the design of the microscope covers and the adjacent workplace of the operator for Tescan Orsay Holding a.s.. Design is solved as the first proposal aimed at future innovation of the design of the entire product line.
Keywords: FIB; focus ion beam; industrial design; microscopy; scanning electron microscope; SEM; FIB; fokusovaný iontový svazek; mikroskopie; průmyslový design; SEM; skenovací elektronový mikroskop

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/67341

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-319480


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Master’s theses