Název:
Electrostatic mini SLEEM for surface studies
Autoři:
Romanovský, Vladimír ; El-Gomati, M. Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: CSEM, Vranovská Ves (CZ), 2002-02-08 / 2002-02-09
Rok:
2002
Jazyk:
eng
Abstrakt: Exploitation of the low-energy electrons is advantageous for several reasons. One of them is their smaller penetration depth into the material, which reveals itself as favourable for the surface analysis. Using the low-energy electrons even causes partial, and in some cases total elimination ofcharging effects at non-conductive or slightly conductive specimens. Slowprimary electrons (PE) cause only reduced radiation damage of specimens.
Klíčová slova:
charging effect; low-energy electrons; non-conductive specimens Číslo projektu: CEZ:AV0Z2065902 (CEP) Zdrojový dokument: Proceedings of the 2nd annual meeting of the Czechoslovak microscopy society, ISBN 80-238-8749-1
Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0101103