Název: Testování úsporného mikrokontroléru s integrovanými analogovými obvody
Překlad názvu: Testing of low power microcontroller with integrated analog circuits
Autoři: Kurzov, Kirill ; Matějásko, Michal (oponent) ; Chalupa, Jan (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2016
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]
Tato práce se zabývá testováním úsporného mikrokontroléru s integrovanými analogovými obvody. Návrhem programu pro měření teploty s pomocí senzoru typu RTD, který je součástí desky, pomocí termočlánku a vnějšího sensoru PT100. Kód je naprogramován za účelem optimalizace měřicího cyklu. Pomocí optimalizace lze minimalizovat spotřebu elektrické energie. This thesis deal with testing of low power microcontroller with integrated analog circuits. It describes the program for measurement with RTD, which is a part of the printed circuit board, thermocouple and external PT100 sensor. The code is writen with an optimization of a measure circuit due to minimisation of the current consumption.
Klíčová slova: ADuCM360(ARM Cortex™-M3); PT100; RTD; termočlánek; ADuCM360(ARM Cortex™-M3); PT100; RTD; thermocouple

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/60186

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-242410


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce