Název: Tenké vrstvy polykrystalického křemíku
Překlad názvu: Thin Films of Polycrystalline Silicon
Autoři: Lysáček, David ; Schmidt, Eduard (oponent) ; Fejfar, Antonín (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Disertační práce
Rok: 2010
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: chemická depozice z plynné fáze; getrace; multivrstevnaté struktury; polykrystalický křemík; chemical vapor deposition; gettering; multilayer structure; polycrystalline silicon

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/7145

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-233931


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Disertační práce
 Záznam vytvořen dne 2016-06-03, naposledy upraven 2023-09-10.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet