Název:
Použití difrakce odražených elektronů
Překlad názvu:
Applications of Electron back-scattered diffraction
Autoři:
Kopeček, Jaromír Typ dokumentu: Příspěvky z konference Konference/Akce: Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy, Žd´ár nad Sázavou (CZ), 2012-10-22 / 2012-10-25
Rok:
2012
Jazyk:
cze
Abstrakt: [cze][eng] Příspěvek popisuje použití difrakce zpětně odražených elektronů.The contribution describe the application of Electron back-scattered diffraction
Klíčová slova:
EBSD method; scanning electron microscopy Zdrojový dokument: Podzimní škola rentgenové mikroanalýzy, ISBN 978-80-7080-834-4
Instituce: Fyzikální ústav AV ČR
(web)
Informace o dostupnosti dokumentu:
Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR. Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0221020