|
|
Charakterizace 1-D nanostruktur metodami SPM
Škoda, David ; Čech, Vladimír (oponent) ; Pavlík, Jaroslav (oponent) ; Dub, Petr (vedoucí práce)
Dizertační práce je zaměřena na charakterizaci uhlíkových nanotrubic a stříbrných nanodrátu rastrovací sondovou mikroskopií -- rastrující tunelovou mikroskopií (STM), mikroskopií atomárních sil (AFM), vodivostní mikroskopií AFM (CAFM) a mikroskopií blízkého pole (SNOM). Uhlíkové nanotrubice byly analyzovány mikroskopiemi STM, AFM a CAFM. V navržené aparatuře byly připraveny stříbrné nanodráty depozicí do polykarbonátových membrán, analyzovány z hlediska geometrie (AFM), lokální vodivosti (CAFM) a optických vlastností (SNOM, mikroreflexní spektroskopie). Bylo zjištěno, že preferenční typ uhlíkových nanotrubic závisí na zpusobu jejich výroby. Vodivostní měření prokázala obdobnou citlivost na rozložení multivrstev nanotrubic jako u STM. Stříbrné nanodráty odpovídají svojí geometrií depozičním podmínkám (AFM), vykazují polovodičové chování (CAFM) a po osvětlení bílým světlem vyzakazují lokalizované plasmonové rezonance.
|
|
|
Measuring parameters of large-area capacitive sensors in touch screens
Baďo, Martin ; Mancl, Vlastimil (oponent) ; Beneš, Petr (vedoucí práce)
This thesis studies characteristics and technologies used in capacitive sensors. For the purpose of automatic testing of sensors was selected and assembled device LowRider CNC V3. Tested sensors are from materials: silver nanowires and copper electrodes. Device during automatic tests was causing certain level of electromagnetic or electrostatic interference on sensors. Copper electrode sensor responded more significantly to touch but also interference, in comparison with silver nanowires sensor. Results of thesis more closely describe responses by sensors to touch and advantages or disadvantages of automatic testing.
|
|
|
Charakterizace 1-D nanostruktur metodami SPM
Škoda, David ; Čech, Vladimír (oponent) ; Pavlík, Jaroslav (oponent) ; Dub, Petr (vedoucí práce)
Dizertační práce je zaměřena na charakterizaci uhlíkových nanotrubic a stříbrných nanodrátu rastrovací sondovou mikroskopií -- rastrující tunelovou mikroskopií (STM), mikroskopií atomárních sil (AFM), vodivostní mikroskopií AFM (CAFM) a mikroskopií blízkého pole (SNOM). Uhlíkové nanotrubice byly analyzovány mikroskopiemi STM, AFM a CAFM. V navržené aparatuře byly připraveny stříbrné nanodráty depozicí do polykarbonátových membrán, analyzovány z hlediska geometrie (AFM), lokální vodivosti (CAFM) a optických vlastností (SNOM, mikroreflexní spektroskopie). Bylo zjištěno, že preferenční typ uhlíkových nanotrubic závisí na zpusobu jejich výroby. Vodivostní měření prokázala obdobnou citlivost na rozložení multivrstev nanotrubic jako u STM. Stříbrné nanodráty odpovídají svojí geometrií depozičním podmínkám (AFM), vykazují polovodičové chování (CAFM) a po osvětlení bílým světlem vyzakazují lokalizované plasmonové rezonance.
|
host ::
RSS.