|
|
Tvorba nanostruktur a nanosoučástek pro oblast nanoelektroniky a spintroniky
Lišková, Zuzana ; Červenka, Jiří (oponent) ; Čech, Vladimír (oponent) ; Šikola, Tomáš (vedoucí práce)
Práce pojednává o vytváření grafenových nanostruktur a jejich aplikacích při měření transportních vlastností grafenu. Na vyrobených exfoliovaných šupinkách grafenu, CVD grafenových vrstvách a zrnech jsou vytvářeny kontakty litografií elektronovým svazkem pro měření jejich odporu. Grafen je rovněž stejnou metodou tvarován. Rezistivita vrstvy, koncentrace a pohyblivost nosičů náboje jsou stanoveny pomocí různých přístupů. Diskutována je také hystereze objevující se v závislosti rezistivity na hradlovém napětí. Významná část práce je věnována sledování odezvy odporu grafenu na změnu relativní vlhkosti prostředí a případnému využití grafenu jako senzoru relativní vlhkosti.
|
|
|
Nejistoty a kompatibilita měření
Kvapil, Josef ; Zavřel, Jiří (oponent) ; Havlíková, Marie (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou nejistot měření při měření odporů a indukčností. Dále se věnuje zpracováním obecných postupů pro určení nejistot měření s použitím měřicích přístrojů Agilent 4263B, Tesla BM507 a Tesla BM591 u zmíněných druhů měření. Bakalářská práce popisuje možné zdroje nejistot, které se mohou vyskytnout u těchto přístrojů. Popisuje rovněž praktické příklady měření s etalonem odporu a indukčnosti se zmíněnými měřicími přístroji a následně vyhodnocuje kompatibilitu těchto měření.
|
|
|
Tvorba nanostruktur a nanosoučástek pro oblast nanoelektroniky a spintroniky
Lišková, Zuzana ; Červenka, Jiří (oponent) ; Čech, Vladimír (oponent) ; Šikola, Tomáš (vedoucí práce)
Práce pojednává o vytváření grafenových nanostruktur a jejich aplikacích při měření transportních vlastností grafenu. Na vyrobených exfoliovaných šupinkách grafenu, CVD grafenových vrstvách a zrnech jsou vytvářeny kontakty litografií elektronovým svazkem pro měření jejich odporu. Grafen je rovněž stejnou metodou tvarován. Rezistivita vrstvy, koncentrace a pohyblivost nosičů náboje jsou stanoveny pomocí různých přístupů. Diskutována je také hystereze objevující se v závislosti rezistivity na hradlovém napětí. Významná část práce je věnována sledování odezvy odporu grafenu na změnu relativní vlhkosti prostředí a případnému využití grafenu jako senzoru relativní vlhkosti.
|
|
|
Nejistoty a kompatibilita měření
Kvapil, Josef ; Zavřel, Jiří (oponent) ; Havlíková, Marie (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá problematikou nejistot měření při měření odporů a indukčností. Dále se věnuje zpracováním obecných postupů pro určení nejistot měření s použitím měřicích přístrojů Agilent 4263B, Tesla BM507 a Tesla BM591 u zmíněných druhů měření. Bakalářská práce popisuje možné zdroje nejistot, které se mohou vyskytnout u těchto přístrojů. Popisuje rovněž praktické příklady měření s etalonem odporu a indukčnosti se zmíněnými měřicími přístroji a následně vyhodnocuje kompatibilitu těchto měření.
|
|
| |
host ::
RSS.