Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 3 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Studium úzkých rezonancí pomocí dvoupotenciálové formule
Bednařík, Lukáš ; Čížek, Martin (vedoucí práce) ; Houfek, Karel (oponent)
Předložená práce se zabývá studiem velmi úzkých rezonancí pomocí projekčního formalismu a dvoupotenciálové formule. Tento aproximativní přístup, navržený S.A. Gurvitzem v [4], nejprve aplikujeme na dva nové potenciály. V následující kapitole je náš formalismus rozšířen na nesymetrický jednodimenzionální potenciál. S pomocí nových formulí je nalezena šířka rezonance částice zachycené v dvojité nesymetrické potenciálové bariéře. Naše výsledky jsou srovnány s numerickými výpočty metodou komplexního škálování. Nakonec je diskutován případ trojrozměrného potenciálu s jednou osou symetrie.
Computing resonance widths using square integrable basis
Votavová, Petra ; Kolorenč, Přemysl (vedoucí práce) ; Houfek, Karel (oponent)
Tato práce se zabývá numerickým výpočtem fázových posuvů, rezonančních energií a rozpadových šířek. Za tímto účelem byly sestrojeny a porovnány čtyři různé neortogonální báze. Konkrétně se jedná o dva typy Gaussovských bází, jednu B-splinovou bázi a jednu hybridní Gaussovskou - B-splinovou bázi. Důraz je kladen především na jejich numerické vlastnosti a schopnost representovat kontinuum. Zvláštní pozornost je také věnována rozsahu energií, ve kterém daná báze dává hodnoty fázových posuvů a rozpadových šířek s dostatečně dobrou přesností. Radiální Schrödingerova rovnice je vyřešena Löwdinovou symetrickou ortogonalizací a rozpadová šířka je následně určena metodou Stieltjes imaging. R-maticová metoda v rámci Feshbachova-Fanova projekčního formalismu v polynomiální bázi je použita jako numericky přesná referenční metoda.
Studium úzkých rezonancí pomocí dvoupotenciálové formule
Bednařík, Lukáš ; Čížek, Martin (vedoucí práce) ; Houfek, Karel (oponent)
Předložená práce se zabývá studiem velmi úzkých rezonancí pomocí projekčního formalismu a dvoupotenciálové formule. Tento aproximativní přístup, navržený S.A. Gurvitzem v [4], nejprve aplikujeme na dva nové potenciály. V následující kapitole je náš formalismus rozšířen na nesymetrický jednodimenzionální potenciál. S pomocí nových formulí je nalezena šířka rezonance částice zachycené v dvojité nesymetrické potenciálové bariéře. Naše výsledky jsou srovnány s numerickými výpočty metodou komplexního škálování. Nakonec je diskutován případ trojrozměrného potenciálu s jednou osou symetrie.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.