|
|
Characterization of scanning transmission electron microscopy images of thin biological sections
Novotná, Veronika ; Nebesářová,, Jana (oponent) ; Krzyžánek, Vladislav (vedoucí práce)
This master´s thesis describes physical principles of the TEM, the SEM and the STEM and their suitability for observation of electron-sensitive samples (embedding media, biological specimens). The interaction between the incident electron beam and the sample is also discussed, as well as the sample preparation for the STEM (TEM). Furthermore, a description of microscopic image processing is included with a section about quantitative comparison of the STEM images. The thesis is focused on the mass loss of pure embedding media (Epon, Spurr, LR White) caused by the electron beam in the low voltage STEM. The samples of different thicknesses were investigated using different microscope settings (acceleration voltage, total dose, probe current, cleaning of the sample surface and specimen chamber) and the STEM imaging modes (bright-field, dark-field). Furthermore, biological samples of Euglena gracilis embedded in Epon and Spurr are examined. Collected images, created algorithms and obtained results are widely discussed.
|
|
|
Vliv mnohonásobného zatěžování na vybrané parametry lehkého betonu
Alexa, Martin ; Misák, Petr (oponent) ; Kocáb, Dalibor (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá sledováním hodnot vybraných parametrů (zejména statického modulu pružnosti) lehkého betonu v tlaku před a po vícenásobném cyklickém zatěžování. Pomocí odporových tenzometrů byly měřeny deformace zkušebních těles při zatěžování. Cyklicky zatěžována byla zkušební tělesa tvaru válce průměru 150 mm a výšky 300 mm a bylo provedeno až 4 500 zatěžovacích cyklů, které vycházely ze zkoušky statického modulu pružnosti v tlaku. Z naměřených hodnot zatížení a deformací byl stanoven modul pružnosti v tlaku. Cílem práce je posouzení změny hodnoty statického modulu pružnosti a dalších vlastností lehkého betonu vlivem vícenásobného zatěžování.
|
|
|
Comparison Of Arc Erosion Coefficients
Piska, Jakub
The problem of nonunified approaches to giving arc erosion ratios is addressed for the application of molded case circuit breakers (MCCBs) in the range 6.5-10 kA. Charge, Joule’s integral and arc energy are compared as possible quantities to use for ratios of mass loss. The linearity of the relationship of mass loss to those quantities was used as the main metric. By this metric the ratio to charge was chosen as the most reliable one. But this relation was constant only for fixed contacts with arcrunners. For the moving contact, the mass loss ratio was a linear function of the effective value of the passing current.
|
|
|
Vliv mnohonásobného zatěžování na vybrané parametry lehkého betonu
Alexa, Martin ; Misák, Petr (oponent) ; Kocáb, Dalibor (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá sledováním hodnot vybraných parametrů (zejména statického modulu pružnosti) lehkého betonu v tlaku před a po vícenásobném cyklickém zatěžování. Pomocí odporových tenzometrů byly měřeny deformace zkušebních těles při zatěžování. Cyklicky zatěžována byla zkušební tělesa tvaru válce průměru 150 mm a výšky 300 mm a bylo provedeno až 4 500 zatěžovacích cyklů, které vycházely ze zkoušky statického modulu pružnosti v tlaku. Z naměřených hodnot zatížení a deformací byl stanoven modul pružnosti v tlaku. Cílem práce je posouzení změny hodnoty statického modulu pružnosti a dalších vlastností lehkého betonu vlivem vícenásobného zatěžování.
|
|
|
Characterization of scanning transmission electron microscopy images of thin biological sections
Novotná, Veronika ; Nebesářová,, Jana (oponent) ; Krzyžánek, Vladislav (vedoucí práce)
This master´s thesis describes physical principles of the TEM, the SEM and the STEM and their suitability for observation of electron-sensitive samples (embedding media, biological specimens). The interaction between the incident electron beam and the sample is also discussed, as well as the sample preparation for the STEM (TEM). Furthermore, a description of microscopic image processing is included with a section about quantitative comparison of the STEM images. The thesis is focused on the mass loss of pure embedding media (Epon, Spurr, LR White) caused by the electron beam in the low voltage STEM. The samples of different thicknesses were investigated using different microscope settings (acceleration voltage, total dose, probe current, cleaning of the sample surface and specimen chamber) and the STEM imaging modes (bright-field, dark-field). Furthermore, biological samples of Euglena gracilis embedded in Epon and Spurr are examined. Collected images, created algorithms and obtained results are widely discussed.
|
host ::
RSS.