|
|
Rozptylové studie pro logistické modely
Dvořáček, Jan ; Šomplák, Radovan (oponent) ; Pavlas, Martin (vedoucí práce)
Předložená diplomová práce se zabývá možnostmi využití metod matematického modelování šíření emisí ze stacionárních zdrojů jako potenciálního nástroje pro přípravu dat pro komplexní logistické úlohy. V tomto případě je jako stacionární zdroj uvažováno zařízení energetického využití odpadu. Práce je rozdělena na dvě stěžejní části, a to teoretickou a výpočtovou. Jako první je věnována pozornost emisním zdrojům a znečišťujícím látkám vznikajícím při procesu termického zpracování odpadů. Následně je uveden přehled legislativy spojené s problematikou znečištění ovzduší, jsou diskutovány rozptylové studie a kvalita ovzduší na území ČR. Závěrečná pasáž teoretické části se zabývá principy výpočtů rozptylu znečišťujících látek a disperzními modely. V úvodu výpočtové části práce je představen použitý software SYMOS'97, hlavní pozornost je pak věnována provedené sérii modelových výpočtů, při kterých byl vyšetřován vliv kapacity zdroje, rozptylových podmínek a terénu na výsledné hodnoty imisních koncentrací. Právě kapacita a zadaná větrná růžice se ukázaly jako parametry zásadně ovlivňující výsledek. Závěrečné zhodnocení ukázalo, že využitý disperzní model jeví dobrý potenciál pro jeho možné využití při řešení komplexních logistických úloh.
|
|
|
Imaging Reflectometry Measuring Thin Films Optical Properties
Běhounek, Tomáš ; Spousta, Jiří (oponent) ; Zicha,, Josef (oponent) ; Kotačka, Libor (oponent) ; Druckmüller, Miloslav (vedoucí práce)
An innovative method of evaluating thin film optical properties, the so called {\it Imaging Reflectometry} based on principles of spectroscopic reflectometry is presented in this thesis.\ Reflectance spectra of the film is extracted from intensity maps recorded by CCD camera, that correspond to chosen wavelengths, either over selected area or at one point.\ A theoretical model of reflectance is fitted to experimental data (the extracted reflectance spectra) by applying Levenberg~-~Marquardt algorithm in order to determine optical properties, their accuracy and reliability factor used to quantify a convergence successfulness of the reflectance model and hence the quality of the acquired results at given settings in a sense of a sensitivity analysis.
|
|
|
Rozptylové studie pro logistické modely
Dvořáček, Jan ; Šomplák, Radovan (oponent) ; Pavlas, Martin (vedoucí práce)
Předložená diplomová práce se zabývá možnostmi využití metod matematického modelování šíření emisí ze stacionárních zdrojů jako potenciálního nástroje pro přípravu dat pro komplexní logistické úlohy. V tomto případě je jako stacionární zdroj uvažováno zařízení energetického využití odpadu. Práce je rozdělena na dvě stěžejní části, a to teoretickou a výpočtovou. Jako první je věnována pozornost emisním zdrojům a znečišťujícím látkám vznikajícím při procesu termického zpracování odpadů. Následně je uveden přehled legislativy spojené s problematikou znečištění ovzduší, jsou diskutovány rozptylové studie a kvalita ovzduší na území ČR. Závěrečná pasáž teoretické části se zabývá principy výpočtů rozptylu znečišťujících látek a disperzními modely. V úvodu výpočtové části práce je představen použitý software SYMOS'97, hlavní pozornost je pak věnována provedené sérii modelových výpočtů, při kterých byl vyšetřován vliv kapacity zdroje, rozptylových podmínek a terénu na výsledné hodnoty imisních koncentrací. Právě kapacita a zadaná větrná růžice se ukázaly jako parametry zásadně ovlivňující výsledek. Závěrečné zhodnocení ukázalo, že využitý disperzní model jeví dobrý potenciál pro jeho možné využití při řešení komplexních logistických úloh.
|
|
|
Imaging Reflectometry Measuring Thin Films Optical Properties
Běhounek, Tomáš ; Spousta, Jiří (oponent) ; Zicha,, Josef (oponent) ; Kotačka, Libor (oponent) ; Druckmüller, Miloslav (vedoucí práce)
An innovative method of evaluating thin film optical properties, the so called {\it Imaging Reflectometry} based on principles of spectroscopic reflectometry is presented in this thesis.\ Reflectance spectra of the film is extracted from intensity maps recorded by CCD camera, that correspond to chosen wavelengths, either over selected area or at one point.\ A theoretical model of reflectance is fitted to experimental data (the extracted reflectance spectra) by applying Levenberg~-~Marquardt algorithm in order to determine optical properties, their accuracy and reliability factor used to quantify a convergence successfulness of the reflectance model and hence the quality of the acquired results at given settings in a sense of a sensitivity analysis.
|
host ::
RSS.