Vaniš, J. - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: Vaniš, J.

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

	Graphite/n-InP Schottky barrier with electrophoretically deposited Pt nanoparticles for hydrogen and nitrogen-monoxide detection Žďánský, Karel ; Vaniš, Jan ; Černohorský, Ondřej ; Kacerovský, Pavel ; Fojtík, A. N-type InP was deposited with Pt nanoparticles (NPs) by electrophoresis. The Pt NPs density was varied from a tenth of monolayer to several monolayers. Schottky contacts were made by colloidal graphite on the InP wafer site covered with Pt NPs. It was observed that H2 was detected by an increase of the current while NO was detected by its decrease. For explanation, we discuss mechanism which involves negative charging of adsorbed H atoms with electrons by increasing affinity level due to correlation efects Plný tet: UFE 0387602 - PDF Plný text: content.csg - PDF Úplný záznam
	Dosavadní vývoj procesu přistoupení Turecka k EU Vaniš, Jakub ; Adámková, Vlasta (vedoucí práce) ; Sudliankou, Aliaksandr (oponent) Situace kolem přijetí Turecka do Evropské unie je velice aktuální téma propírané v médiích i na půdě světových politických diskusí. Tato bakalářská práce se zabývá zachycením probíhajícího procesu z různých hledisek za pomoci dostupných dat i pohledu na problematiku z pozice občana České republiky. Práce je rozdělena do čtyř kapitol. V první části je Turecko rozebíráno z hlediska geografického a historického. Část druhá prezentuje sled událostí předcházejících aktuální pozici Turecka uprostřed vstupních rozhovorů s Evropskou unií. Základní překážky konečné integrace pak rozebírá část třetí a čtvrtá kapitola analyzuje výsledky krátkého dotazníku k této problematice. Úplný záznam
	Microscopy of nanoparticles and films with nanoparticles Kacerovský, Pavel ; Žďánský, Karel ; Procházková, Olga ; Vaniš, Jan ; Grym, Jan ; Vasiliev, A. ; Pašajev, E. M. To study the electrophoreticaly deposited nanolayers of reverse micelles with Pd nano-particles on n-type InP substrates a wide range of current microscopic methods has been used. What concerns analytical methods the X-ray diffraction and mass spectrometry SIMS were used. The most relevant results about Pd nanoparticles in the layer were obtained by using HRTEM microscopy and SIMS spectrometry. In nanolayers crystallographic arrangement of Pd nanoparticles has not been found. Úplný záznam
	Measurement of electrical and mechanical oscillations of yeast cells membrane in acoustic frequency range Jelínek, František ; Pokorný, Jiří ; Vaniš, Jan ; Hašek, Jiří ; Šimša, Jan The paper describes the measurement of electric activity of yeast cells at frequencies around 1 kHz and of mechanical vibrations of cell membrane. Synchronized and non-synchronized tubulin mutants of yeast cells were measured. The paper includes a description of the laboratory equipment with a platinum wire point sensor and a spectrum analyzer. Obtained results are in good agreement with AFM findings. Úplný záznam
	Preliminary balistic electron emission microscopy/spectroscopy characterization of InAs quantum dots in AlGaAs/GaAs heterostructure Vaniš, Jan ; Henini, M. ; Šroubek, Filip ; Walachová, Jarmila We presented a characterization of InAs self assembled quantum dots embedded in quantum well of the AlGaAs/GaAs heterostructure using ballistic electron emission microscopy/spectroscopy BEEM/BEES. Structures are grown by MBE. Results of spectroscopic measurements "on the dot" and "out of the dot" are also presented. Úplný záznam
	Modification of Bi.sub.2./sub.Te.sub.3./sub. nanolayers Zeipl, Radek ; Pavelka, Martin ; Jelínek, Miroslav ; Vaniš, Jan ; Šroubek, Filip ; Walachová, Jarmila Our Bi.sub.2./sub.Te.sub.3./sub. nanolayers were prepared by laser ablation. If we use different depositon condition, prepared layers will have different properties, exactly with rising temperature of substrate during deposition laeyrs becoming smoother. We present STM picture of 60nm thick Bi.sub.2./sub.Te.sub.3./sub. prepared on substrate with temperature during deposition of 400.sup.0.sup.C. We also present modification of layer after many scans were realized by STM on the same place. Úplný záznam
	Modification of Bi.sub.2./sub.Te.sub.3./sub. by STM and AFM Vaniš, Jan ; Czajka, R. ; Horák, Jaromír ; Lošťák, P. ; Karamazov, S. ; Walachová, Jarmila Úplný záznam
	Měření profilu koncentrace/složení na polovodičových nanovrstvách kontaktní metodou. (Measurement of concentration/composition profiles on semiconductor nanostructures with contract mothod) Walachová, Jarmila ; Zelinka, Jiří ; Vaniš, Jan ; Hulicius, Eduard ; Šimeček, Tomáš Úplný záznam
	Stability of home made STM head Karamazov, S. ; Zelinka, Jiří ; Kohout, Jindřich ; Vaniš, J. ; Berková, Daniela ; Walachová, Jarmila Úplný záznam
	Modified of Bi2Te3 a Sb2Te3 bz STM and AFM Vaniš, J. ; Czajka, R. ; Horák, Jaromír ; Karamazov, S. ; Walachová, J. Úplný záznam

Viz též: podobná jména autorů
2	Vaniš, Jakub
5	Vaniš, Jan
4	Vániš, Jiří

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English