Hlavní stránka > Výsledky hledání: 999C1a:GA106/07/0805
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Microstresses and x-ray diffraction
 Drahokoupil, J. ; Čerňanský, Marian ; Ganev, N. ; Kolařík, K. ; Pala, Z.
The description of an influence of microstresses and macrostresses on diffraction line profiles. Depth distribution of residual stresses in the shot-peened steel obtained by X-ray diffraction.
Úplný záznam
Microstrains and x-ray diffraction
 Drahokoupil, J. ; Čerňanský, Marian ; Kolařík, K.
An attention is paid to the microstrain – its effect on X-ray diffraction and a method to its estimation from a broadening of diffraction lines. Especially, the single line Voigt function method is presented for the estimation of the microstrain and crystallite size from a single diffraction line.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English