Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 19 záznamů.  1 - 10další  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Aktivní úhlové polohování koncové měrky v systému pro její automatickou kalibraci
Buchta, Zdeněk
Týmem vědeckých pracovníků a techniků z ÚPT AVČR v.v.i. a brněnské firmy Mesing spol. s r.o. byl navržen a sestaven systém pro bezkontaktní kalibraci a 3D diagnostiku koncových měrek. Tento systém zavádí do praxe zcela nový, dnes již patentově chráněný, princip kalibrace délky koncové měrky pomocí kombinace bílého a laserového záření. Na rozdíl od současných kalibračních mostů, kde je měrka podrobena dotykovému měření a následnému srovnání s tzv. referenční měrkou, případně systémů, kdy je koncová měrka přisáta na referenční ploše a jako délka měrky je prezentována opticky měřená vzdálenost mezi referenční plochou a volným čelem koncové měrky, je u tohoto přístroje měření provedeno bezdotykově pouze pomocí bílého světla a záření Helium-Neonového laseru. Délka měrky je tak určena bezkontaktně a s přímou návazností na definici jednotky délky jeden metr. Díky důmyslnému systému na manipulaci s koncovými měrkami je měření plně automatické.
Nanometrology coordinate measurement machines uncertainties caused by frequency fluctuations of the laser
Hrabina, Jan ; Lazar, Josef ; Číp, Ondřej
One of considerable sources of displacement measurement uncertainty in nanometrology systems such as multidimensional interferometric positioning for local probe microscopy is the influence of amplitude and especially frequency noise of a laser source which powers the interferometers. We investigated the noise properties of several laser sources suitable for interferometry for micro- and nano-CMMs (coordinate measurement machines) and compared the results with the aim to find the best option. The influences of amplitude and frequency fluctuations were compared together with the noise and uncertainty contributions of other components of the whole measuring system. Frequency noise of investigated laser sources was measured by two approaches – at first with the help of frequency discriminator (Fabry-Perot resonator) converting the frequency (phase) noise into amplitude one and then directly through the measurement of displacement noise at the output of the interferometer fringe detection and position evaluation. Both frequency noise measurements and amplitude noise measurements were done simultaneously through fast and high dynamic range synchronous sampling to have the possibility to separate the frequency noise and to compare the recorded results.
Displacement Interferometry in Passive Fabry-Perot Cavity
Lazar, Josef ; Číp, Ondřej ; Oulehla, Jindřich ; Pokorný, Pavel ; Fejfar, Antonín ; Stuchlík, Jiří
We present techniques oriented to improvement of precision in incremental interferometric measurements of displacements over a limited range where the atmospheric wavelength of the coherent laser source is either directly stabilized to a mechanical reference or is corrected to fit to the reference. This may represent a reduction of uncertainty linking the laser wavelength not to indirectly evaluated refractive index but to the setup mechanics which cannot be completely eliminated. Here we suggest an approach where the traditional interferometers are replaced by a passive Fabry-Perot cavity with position sensing using an intracavity transparent photodetector.
Multiple Probe Photonic Force Microscopy
Jákl, Petr ; Šerý, Mojmír ; Zemánek, Pavel
Single beam optical trap (also known as optical tweezers) is created by a laser beam that is tightly focused by microscope objective with high numerical aperture. A dielectric particle in water medium is then dragged by optical forces to place of the highest optical intensity, i.e. to the laser beam focus. Photonic force microscopy (PFM) is a technique that utilizes optical tweezers for confining the local probe, usually a dielectric particle of a sub-micron diameter. I.e. PFM belongs to the of large family of scanning probe microscopy (SPM) techniques. We have used fluorescently labeled polymer sphere in order to conveniently measure the distance between the particle center and the focal point of the laser beam. To make the measurement more precise, we have measured two-photon-fluorescence, which is quickly decreasing with the probe-focus distance.
Interferenční vrstvy na krystalech pro optické zesilovače
Oulehla, Jindřich
Příspěvek se zabývá technologií interferenčních vrstev na materiálech, které jsou v praxi používány pro výrobu laserových zesilovačů. Tyto vrstvy musí splňovat nejen optické, ale i další parametry, jako například odolnost vůči chladícímu mediu, intenzivnímu laserovému záření, apod.
Co je laser a jak funguje
Zemánek, Pavel
Širokému spektru posluchačů bude přiblížen princip laseru a jeho aplikace.
Generování přesných délek optickým hřebenem
Šmíd, Radek
Předkládáme metodu ke generaci přesné délky pomocí optického frekvenčního hřebene stabilizovaného na referenční atomové hodiny. Optické frekvenční hřebeny jsou schopny přenést stabilitu přesného času z referenčních atomových hodin na měření optické délky. Byl použit Fabry-Perotův rezonátor s ultranízko roztažným materiálem umístěný do vakuové komory. Přesná délka Fabry-Perotova rezonátoru ve vakuu slouží jako reference pro měření indexu lomu okolního vzduchu.
Optická vlákna a vláknové mřížky v laserové interferometrii
Mikel, Břetislav
Nové možnosti vylepšení vlastností laserových interferometrů nabízí optická vlákna a zejména vláknové mřížky. Právě využitím speciálních Braggových vláknových mřížek lze velmi výrazně ovlivnit např. klíčové frekvenční parmatery laserových diod v interferometrických systémech.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 19 záznamů.   1 - 10další  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.