| |
| |
|
Studium vlastností bimetalických nanostruktur na površích křemíku metodami STM a STS
Zimmermann, Petr ; Mysliveček, Josef (oponent) ; Sobotík, Pavel (vedoucí práce)
Práce se zabývá studiem lineárních nanostruktur tvořených kovy III. (Al, In) a IV. (Sn) skupiny na povrchu Si(001)2×1 metodami řádkovací tunelové mikroskopie a spektroskopie. Atomy se na povrchu uspořádávají do atomárních řetízků, které rostou kolmo k dimerovým řádkům povrchové rekonstrukce. Struktura řetízků je tvořena dimery, které se adsorbují mezi dimerové řádky. Pozorujeme, že řetízky jsou tvořeny atomy obou prvku: sekvencemi homodimerů obou prvků u kombinovaných se smíšenými dimery. Struktura In-Sn řetízků je zkoumána na základě teoretických modelů. Model je aplikován na systém Al-Sn. Ukazuje se, že řetízky AlSn jsou často tvořeny uspořádanými smíšenými dimery. Obraz smíšených dimerů v STM závisí na chemickém složení sousedních dimerů. U řetízků dále pozorujeme tendenci shlukovat se a v těchto shlucích prostřednictvím cínových atomů vytvářet kvaziperiodické 2D struktury. Pomocí tunelové spektroskopie je studována struktura Al, Sn a smíšeného AlSn dimeru. Ukazuje se, že smíšený dimer má malou, nenulovou hustotu stavu na Fermiho energii. Dimer se však jeví spíše jako nevodivý.
|
|
Studium tenkých vrstev oxidu ceru metodami rastrovací tunelové mikroskopie (STM) a spektroskopie (STS)
Dvořák, Filip ; Mysliveček, Josef (vedoucí práce) ; Sobotík, Pavel (oponent)
Náplní práce je studium modelového systému CeO2/Cu(111) pomocí metody STM. Práce se zaměřuje na identifikaci růstového módu systému CeO2/Cu(111), studium závislosti morfologie povrchu systému na teplotě substrátu při přípravě vzorku a na určení atomární struktury připravených vrstev. Z hlediska vývoje teploty substrátu Cu(111) v průběhu depozice CeO2 byly vzorky připravovány třemi různými postupy - konstantní teplota, proměnná teplota a žíhání vzorku po depozici. Z měření morfologie vzorků byl určen rovnovážný růstový mód CeO2/Cu(111) jako 3D růst. Pomocí různé teploty substrátu při přípravě vzorku byly připraveny definované vzorky s různou morfologií. Čím nižší byla teplota v průběhu přípravy vzorku, tím více byl připravený systém neuspořádaný a rostla hustota defektů na jeho povrchu (dislokace, schody). Nejlepší epitaxe systému bylo dosaženo přípravou při proměnné teplotě substrátu. U vzorků připravených při teplotě vyšší než 400 řC byla na několika procentech povrchu pozorována vrstva CeO2(100). Vysoce rozlišené studium struktury CeO2/Cu(111) bylo provedeno na vzorcích s nízkým pokrytím připravených při konstantní teplotě. V prvních třech monovrstvách CeO2 byla na topografických měřeních patrná moir struktura, která vznikla kvůli nesouladu mřížkových konstant CeO2 a Cu(111). Atomárního rozlišení se...
|
| |
| |
|
Metody SPM založené na sondách vyrobených z křemenného rezonátoru
Wertheimer, Pavel ; Sobotík, Pavel (oponent) ; Číp, Ondřej (oponent) ; Šikola, Tomáš (vedoucí práce)
Dizertační práce je zaměřena na vývoj systémů mikroskopů s rastrující sondou, zejména na vývoj a implementaci technologie sond založených na křemenných rezonátorech. Sondy založené na křemenných rezonátorech mají v porovnání s běžnými křemíkovými cantilevery několik výhod. Jsou to především jejich speciální mechanické parametry a možnost elektrického vyčítání signálu odpovídajícího průhybu raménka. Díky elektrickému vyčítání lze sondy založené na křemenných rezonátorech snadno implementovat i do komplexnějších SPM aparatur. Práce pojednává o vývoji elektroniky univerzálního, jednoduše upravitelného řídicího systému pro měření SPM. Systém obsahuje komerční řídicí a oscilační jednotku, ostatní elektronické prvky (např. VN zesilovač a předzesilovače signálů pro měření SPM) jsou předmětem vývoje popsaného v této dizertační práci. Dále je v práci prezentován vývoj systému mikroskopu UHV LT SPM se sondou qPlus, který byl uskutečněn na Universität Hamburg. V rámci jeho vývoje byl navržen předzesilovač určený pro práci na teplotách kapalného helia. Třetím tématem dizertační práce je implementace technologie qPlus do mikroskopu UHV VT SPM určeného pro práci v UHV komoře s elektronovým rastrovacím mikroskopem. Navrženy byly sondy qPlus a univerzální předzesilovač pro zpracování signálů z křemenných rezonátorů. Na všech vyvinutých systémech byla provedena testovací měření.
|