|
|
Lokální charakterizace elektronických součástek
Müller, Pavel ; Škarvada, Pavel (oponent) ; Tománek, Pavel (vedoucí práce)
Vývoj mikro a nano elektroniky a nanooptiky si vyžaduje nové charakterizační techniky k zajištění kvality navrhovaných součástek. Práce popisuje použití skenovacího optického mikroskopu v blízkém poli (SNOM) v rozměrové kontrole a v lokálním vyšetřování různých parametrů. Příklad jeho potenciálu korelace mezi topografií a odrazivostí měřených kondenzátorů je popsána v této práci.
|
|
|
Improvement of control and analysis techniques of a SPM model
Štefko, Marcel ; Nováček, Zdeněk (oponent) ; Šulc, Dalibor (vedoucí práce)
This Bachelor Thesis is focused on development of a model of an atomic force microscope (AFM). First part of the thesis is research of already existing analogies between macroscopic phenomena and phenomena connected to scanning probe microscopy. A suitable analogy was chosen and implemented into an existing AFM model. A single-board computer was integrated into the model to enable control without connecting an external computer. In final chapters, probe behaviour and analogies between the model and real atomic force microscopes are discussed.
|
|
|
Preparation and analysis of nanostructures in UHV conditions
Gloss, Jonáš ; Spousta, Jiří (oponent) ; Mach, Jindřich (vedoucí práce)
The purpose of this thesis was to study the preparation and analysis of nanostructures in Ultra High Vacuum (UHV) conditions. The theory section has a strong emphasis on Gallium Nitride (GaN) nanostructures. These were then analyzed by Scanning Tunneling Microscope (STM). In order to be able to analyze prepared samples in UHV STM, electrochemical etching of tungsten wire was carried out. This thesis gives an account on how to obtain tungsten tips for STM. The section dealing with tungsten tip fabrication includes description of electrochemical etching principle. Scanning Electron Microscope (SEM) images of etched tips and their further sharpening by Focused Ion Beam (FIB) was carried out. In this work a method for in-situ UHV STM tip revitalization by electron annealing is proposed. It was concluded that it is possible to routinely obtain tungsten tips with apex radius in the order of nanometers.
|
|
|
Počítačové zpracování tomografických dat
KONEČNÝ, Jan
Tomografy jsou již značnou dobu jedny z nejdůležitějších diagnostických přístrojů, používaných dnes v každé nemocnici. Právě jednotlivými typy tomografů, zpracováním tomografických dat a prohlížením těchto dat se zabývám v této práci. Popisuji zde čtyři nejběžnější typy tomografických přístrojů, a to CT (rentgenová počítačová tomografie), MRI (magnetická rezonanční tomografie), PET (pozitronová emisní tomografie) a SPECT (jednofotonová emisní počítačová tomografie). V práci je popsán základní princip těchto přístrojů, jejich technické parametry, použití a také jednotlivé datové formáty používané pro tomografická data. V praktické části se zabývám softwarem pro prohlížení a zpracování tomografických dat. Konkrétně volně stažitelnými prohlížeči MRIcro, ezDICOM, Amide, ImageJ a Gpetview. Jsou zde popsány jejich hlavní funkce a uvedeny klady a zápory. Poslední část je věnována programu SPM, který slouží pro pokročilé zpracování 3D dat z tomografických přístrojů: PET, VBM, MRI i zobrazovacích technik EEG a MEG. Popisuji zde jeho možnosti a také jednotlivé kroky při zpracování konkrétních vzorových dat pocházejících z vyšetření na funkční magnetické rezonanci. Práce by měla být určena těm, kteří se chtějí více dozvědět o zpracování tomografických dat a hlavně by měla sloužit jako přehled volně stažitelného softwaru pro zpracování a prohlížení těchto dat.
|
host ::
RSS.