Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 57 záznamů.  začátekpředchozí48 - 57  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Studium fotoluminiscence tenkých vrstev
Kouřil, Jan ; Spousta, Jiří (oponent) ; Kalousek, Radek (vedoucí práce)
Bakalářská práce se v první části zabývá teorií fotoluminiscence v polovodičích, v druhé části potom problematikou měření fotoluminiscence tenkých vrstev SRON a srovnáním naměřených spekter pro různé podmínky.
Studium optických vlastností tenkých transparentních vrstev
Schmiedová, Veronika ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá studiem tenkých transparentních vrstev organických materiálů (PPV, P3HT, TiO2, DPP). V teoretické části jsou popsány principy nanášení tenkých vrstev analyzovaných materiálů a jejich vlastnosti. Dále jsou popsány metody zkoumající kvalitu jejich povrchu, především s využitím optické a interferenční mikroskopie. Ke zpracování dat byla využita obrazová analýza pomocí programu HarFA. Pro stanovení tloušťky vrstvy a indexu lomu byl použit interferenční mikroskop. Z interferenčních obrazců byla určena šířka pruhů pro různé hodnoty prahu, ale především nehomogenita rozhraní pruhů, která vypovídá o nehomogenitě povrchu vzorku. Z obrazů pořízených pomocí optického mikroskopu byly určeny střední chyby (ale i chyby vyšších řádů) charakterizující nehomogenity povrchů vzorků. V závěru práce jsou výsledky obou metod porovnány.
Studium indexu lomu tenkých vrstev pomocí interferenční mikroskopie
Procházka, Petr ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce je zaměřena na měření spektrálních závislostí indexu lomu tenkých vrstev. Cílem práce bylo proměření disperzních závislostí indexu lomu. Teoretická část pojednává o současných metodách měření indexu lomu a veličin s ním souvisejících. Tyto metody byly seřazeny od nejjednodušší až po nejnáročnější metodu, přičemž záměrem vlastní práce bylo dosáhnout výsledků pomocí velmi jednoduché metody interferenční mikroskopie. Byly zkoumány tenké vrstvy různých organických látek za použití optického, ale hlavně interferenčního mikroskopu pro stanovení jejich optických vlastností, resp. indexu lomu a jeho disperzních závislostí. Pomocí interferenčního mikroskopu a digitálního fotoaparátu byly poříze-ny snímky, které byly podrobeny obrazové analýze v programu HarFA. Zpracováním v tomto programu byly zjištěny disperzní závislosti indexu lomu.
Příprava fotokatalyticky aktivních vrstev oxidu titaničitého
Šeffer, Lukáš ; Jančovičová, Viera (oponent) ; Veselý, Michal (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce poskytuje přehled o metodách přípravy tenkých vrstev oxidu titaničitého a oxidu křemičitého sol-gel technikou rotačním litím, vytahováním z roztoku, válcovým a štěrbinovým nanášením, litím, nastříkáním, naprášením, chemickým napařováním a tiskem. Dále jsou diskutovány postupy přípravy složených filmů získaných smícháním solů oxidu titaničitého a oxidu křemičitého a dvouvrstvých filmů, kde se oxid titaničitý a křemičitý nanášejí odděleně. Součástí popisu přípravy vrstev je i metodika testování jejich fotokatalytické aktivity.
Preparation of Thin Layers of Ferromagnetic Semiconductors
Koštejn, Martin
Plný tet: SKMBT_C22013082212451 - Stáhnout plný textPDF
Plný text: content.csg - Stáhnout plný textPDF
Preparation of ZnO Layers by Surfatron with Possible Photo-Catalytic Usage
Dytrych, Pavel ; Slater, M. ; Klusoň, Petr ; Churpita, Olexandr ; Hubička, Zdeněk ; Čada, Martin ; Morozová, Magdalena ; Zita, B. ; Krýsa, J. ; Straňák, Vítězslav
Pecvd method in this contribution we deal with the preparation of thin layers of ZnO, which exhibit interesting photo-sensitive properties. ZnO functional layers were prepared by surfatron by a PECVD method.
Interferenční vrstvy na krystalech pro optické zesilovače
Oulehla, Jindřich
Příspěvek se zabývá technologií interferenčních vrstev na materiálech, které jsou v praxi používány pro výrobu laserových zesilovačů. Tyto vrstvy musí splňovat nejen optické, ale i další parametry, jako například odolnost vůči chladícímu mediu, intenzivnímu laserovému záření, apod.
Příprava nanočástic kovových oxidů vhodných pro tenké vrstvy
Krejčíková, Simona ; Matějová, Lenka ; Šolcová, Olga
Naše studie je zaměřena na přípravu tenkých vrstev oxidu titaničitého dopovaného stříbrem a zirkonem a vlivu dopantů na změnu vlastností výsledných tenkých vrstev.
Příprava a charakterizace tenkých vrstev oxidů zirkonu a titanu
Krejčíková, Simona ; Matějová, Lenka ; Matěj, Z. ; Jirkovský, Jaromír ; Šolcová, Olga
Oxidy titaničitý a zirkoničitý jsou slibné materiály pro řadu aplikací. Odlišnosti v povrchové morfologii, textuře a krystalinitě mají vliv na jejich katalytické vlastnosti. Proto je speciální pozornost zaměřena na detailní strukturní charakterizaci připravených tenkých vrstev.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 57 záznamů.   začátekpředchozí48 - 57  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.