Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Vliv radiace na vlastnosti polovodičových součástek
Yermalayeva, Darya ; Šteffan, Pavel (oponent) ; Musil, Vladislav (vedoucí práce)
Tato diplomová práce řeší problematiku vlivu ionizujícího záření na polovodičové součástky a změnu jejich vlastností. Práce vychází z rozboru jednotlivých druhů záření, které se mohou vyskytnout v oblastech použití součástek. V druhé kapitole byly prozkoumány degradační procesy s akcentem na vliv způsobený radiační dávkou. Také byly popsány vlivy krystalových poruch, poruch ionizací a účinků SEE (Single Event Effects). Třetí kapitola popisuje postup návrhu zařízení a škodlivé účinky, se kterými se musí počítat při návrhu. V čtvrté a páté kapitole bylo provedeno modelování radiačních efektů (vlivu dávkového příkonu, jevů typu SEU a celkové dávky TID) v programu PSpice a byla ověřena možnost návrhu jednoduchého dozimetru s křemíkovou diodou. Na konci práci v závěru jsou shrnuty výsledky.
Vliv radiace na vlastnosti polovodičových součástek
Yermalayeva, Darya ; Šteffan, Pavel (oponent) ; Musil, Vladislav (vedoucí práce)
Tato diplomová práce řeší problematiku vlivu ionizujícího záření na polovodičové součástky a změnu jejich vlastností. Práce vychází z rozboru jednotlivých druhů záření, které se mohou vyskytnout v oblastech použití součástek. V druhé kapitole byly prozkoumány degradační procesy s akcentem na vliv způsobený radiační dávkou. Také byly popsány vlivy krystalových poruch, poruch ionizací a účinků SEE (Single Event Effects). Třetí kapitola popisuje postup návrhu zařízení a škodlivé účinky, se kterými se musí počítat při návrhu. V čtvrté a páté kapitole bylo provedeno modelování radiačních efektů (vlivu dávkového příkonu, jevů typu SEU a celkové dávky TID) v programu PSpice a byla ověřena možnost návrhu jednoduchého dozimetru s křemíkovou diodou. Na konci práci v závěru jsou shrnuty výsledky.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.