Hlavní stránka > Výsledky hledání: Vaniš, Jan
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 13 záznamů.  předchozí11 - 13  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Modification of Bi.sub.2./sub.Te.sub.3./sub. by STM and AFM
 Vaniš, Jan ; Czajka, R. ; Horák, Jaromír ; Lošťák, P. ; Karamazov, S. ; Walachová, Jarmila
Úplný záznam
Měření profilu koncentrace/složení na polovodičových nanovrstvách kontaktní metodou. (Measurement of concentration/composition profiles on semiconductor nanostructures with contract mothod)
 Walachová, Jarmila ; Zelinka, Jiří ; Vaniš, Jan ; Hulicius, Eduard ; Šimeček, Tomáš
Úplný záznam
Balistická elektronová emisní mikroskopie kvantových InAs teček v AlGaAs/GaAs heterostruktuře
 Vaniš, Jan ; Hulicius, Eduard ; Pangrác, Jiří ; Melichar, Karel ; Walachová, Jarmila
Jsou prezentována balistická elektronová emisní měření InAs/GaAs kvantových teček v AlGaAs/GaAs heterostruktuře. Měřená struktura byla připravena MOCVD technikou. Při měřeních byla analyzována plošná oblast 1 μm.sup.2./sup. Na analyzovaných oblastech byly zviditelněny a změřeny různé velikosti a tvary kvantových teček. Obvyklá velikost kvantových teček byla přibližně 10 nm a méně. Pozorované tvary zřejmě souvisí s hustotou stavů v kvantových tečkách.
Úplný záznam

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 13 záznamů.   předchozí11 - 13  přejít na záznam:
Viz též: podobná jména autorů
1 Vaniš, J.
2 Vaniš, Jakub
4 Vániš, Jiří
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English