|
|
Interferometer controlled positioning for nanometrology
Lazar, Josef ; Číp, Ondřej ; Čížek, Martin ; Hrabina, Jan ; Šerý, Mojmír ; Klapetek, P.
We present a system for dimensional nanometrology based on scanning probe microscopy techniques (primarily atomic force microscopy, AFM) for detection of sample profile combined with interferometer controlled positioning. The interferometric setup not only improves resolution of the position control but also ensures direct traceability to the primary etalon of length. The system was developed to operate at and in cooperation with the Czech metrology institute for calibration purposes and nanometrology. The interferometers are supplied from a frequency doubled Nd:YAG laser stabilized by linear absorption spectroscopy in molecular iodine and the interferometric configuration controls the stage position in all six degrees of freedom.
|
|
|
Absolutní frekvenční posuvy jodem stabilizovaných laserových etalonů zpusobené čistotou jodu absorpčních kyvet
Hrabina, Jan ; Jedlička, Petr ; Číp, Ondřej ; Lazar, Josef
Jodem stabilizované Nd:YAG lasery představují ve spojení se syntezátory optických kmitočtů prostředek k realizaci optických hodin, zařízení dovolujícího dosažení stability optické frekvence stabilizovaného laseru do radiofrekvenčního pásma. V této práci prezentujeme výsledky měření čistoty jodu v absorpčních kyvetách vyrobených na našem ústavu. Čistota byla testována zdokonalenou metodou založenou na indukované fluorescenci s výpočtem Sternovy-Volmerovy formule. Zdokonalení sestavy spočívalo v zařazení prvků ke kompenzaci modových a výkonových nestabilit budicího laseru. Dále byly přímým frekvenčním srovnáváním změřeny absolutní frekvence vybraných hyperjemných jodových přechodů Nd:YAG laseru stabilizovaného pomocí jodových absorpčních kyvet s reprodukovatelností měření pod úrovní 1 kHz. Výsledky obou metod spolu dobře korelují a byly použity ke zdokonalení technologie výroby kyvet na našem ústavu.
|
|
| |
|
|
Construction of laser source for precision measurements
Mikel, Břetislav ; Urban, F. ; Číp, Ondřej
We describe a new laser head with Vertical Cavity Surface Emitting Laser (VCSEL) diode. The VCSEL lasers at 760 nm with mode-hop free tuning range above 1 nm are affordable now. The VCSEL's are fabricated as circulary-symetric lasers; the circular aperture is of particular value as it implies a circular beam profile. The linewidth and the optical noise of the VCSEL laser diode depend on the stability of the current source controller and on the quality temperature control system. We developed a digital temperature control system with temperature stability below 1 mK and high stability current source controller.
|
|
| |
|
| |
|
| |
|
|
New method for direct measurement of refraction index of air with He-Ne lasers
Matoušek, Vít ; Číp, Ondřej
Interferometer methods are used for the high accuracy measurement of distance by specifying the measurement of the air index, since the measurement of the refraction index of air is in atmosphere, the refraction index of air is dependant upon temperature, pressure and humidity. For the measurement of the refraction index of air, Eden's formula is usually used. The formula depends upon the atmospheric values and the CO2 concentration.
|
|
|
Řídící systém pro absolutní interferometrii s plynule přeladitelným polovodičovým laserem
Mikel, Břetislav ; Číp, Ondřej ; Lazar, Josef
Práce je orientována na vývoj absolutního laserového interferometru. Jeho konstrukce využívá laserových diod s vertikálním rezonátorem VCSEL (Vertical cavity surface emitting laser) o vlnové délce 760 nm, které umožňují její plynulé přeladění pomocí proudového zdroje. Pro detekci je využita metoda WSI (wavelength-scanning interferometry). Ve článku představujeme vývoj teplotního kontroleru se stabilitou 1 mK a vysoce přesného proudového zdroje. Současně uvádíme unikátní princip zaznamenání vlnové délky pomocí Fabry-Perotova rezonátoru
|
|
|
Vláknové mřížky pro zvýšení stability polovodičových laserů
Mikel, Břetislav ; Číp, Ondřej
Laserové diody s vertikálním rezonátorem VCSEL (Vertical cavity surface emitting laser) mají díky svým unikátním vlastnostem velmi široké využití mimo jiné i v oblastech laserové interferometrie a spektroskopie. Široké využití umožnila jejich sériová produkce, která začala před několika lety. V současnosti se s rozvojem vláknových mřížek začalo využívat spojení diody VCSEL s vláknovou mřížkou ve zpětnovazebním zapojení. Tato práce nastiňuje možnosti zlepšení vlastností laserového zapojení použitím různých typů vláknových mřížek
|
host ::
RSS.