Ústav přístrojové techniky

Ústav přístrojové techniky Nalezeno 1,500 záznamů.  začátekpředchozí21 - 30dalšíkonec  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
SMV-2023-46: VUT_FSI_mikrostruktury
Mrňa, Libor ; Novotný, Jan
Mikrostrukturování povrchu dodaných vzorků pomocí pikosekundového mikroobrábění.
SMV-2023-45: PZK_wobble_svar
Mrňa, Libor ; Horník, Petr
Ověření využití technologie laserového svařování s dynamickým vychylováním svazku pro svaření pláště magnetických spojek PK 196 392.
SMV-2023-44: Mauting_lasvar119
Mrňa, Libor ; Horník, Petr
Vývoj technologie laserového svařování pro tepelný výměník A1177164.00.
SMV-2023-40: Charakterizace zdrojů a optických prvků koherentní optiky pro komerční zařízení
Holá, Miroslava ; Řeřucha, Šimon ; Pravdová, Lenka ; Čížek, Martin
Smluvní výzkum byl zaměřen na charakterizace laserového zdroje. Charakterizace laserového zdroje byla rozdělena do dvou částí. První část byla zaměřena na charakterizaci optické frekvence laserového zdroje v délce minimálně 100 hodin s rozlišením lepší než 100kHz. Druhá část se týkala charakterizaci zero-driftu diferenčního interferometru typu common-path. Jednalo se o měření kolísání interferenční fáze při odrazu svazků ramen interferometru o společné zrcadlo (tzv. zero-drift) v délce minimálně 100 hodin s rozlišením lepším než 1nm pro dvojici diferenčních interferometrů se souběžným měřením parametrů atmosféry.
SMV-2023-39: Kontrolér pro sondu k odměřování vzdáleností
Holá, Miroslava ; Řeřucha, Šimon ; Čížek, Martin ; Pavelka, Jan ; Hucl, Václav
Odměřování pomocí laserového interferometru se řadí mezi nejpřesnější druhy měření vzdáleností. Aby tohoto cíle bylo dosaženo je potřeba mít nejen přesný laserový zdroj, interferometr a i kontrolér, který zajistí správný záznam a vyčítání potřebných dat. Smluvní výzkum „Kontrolér pro sondu na odměřování vzdáleností“ byl zaměřen na realizaci právě takového kontroléru. Kontrolér obsahuje několik obslužných modulů, které zajišťují správný záznam a vyčítání změřených dat a k tomu dané příslušenství. Kontrolér jednak zaznamenává a vyčítá data z laserového interferometru a druhak data z modulu, který snímá parametry atmosféry, které jsou potřebné ke stanovení měřené vzdálenosti.
SMV-2023-12: Konstrukce a depozice interferenčních filtrů - laserových brýlí
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Konstrukce systému optických interferenčních vrstev splňujícího zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem.
SMV-2023-10: Konstrukce, vývoj a depozice interferenčních filtrů, antireflexních vrstev a zrcadel
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Studium spektrálních vlastností systémů interferenčních tenkých vrstev a výzkum a modelování možností realizace optických vrstev pro komponenty optických přístrojů splňujících zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem a ověření reprodukovatelnosti. Konkrétně se jedná o širokopásmové antireflexní vrstvy, širokopásmová zrcadla a různé typy dichroických filtrů.
SMV-2023-09: Konstrukce, vývoj a depozice optických tenkovrstvých soustav
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Výzkum a modelování možností realizace optických filtrů splňujících zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem a ověření reprodukovatelnosti. Konkrétně se jedná o LowPass-, HighPass- a BandPass-filtry, dichroická zrcadla, filtry korigující spektrální průběh propustnosti, antireflexní vrstvy, děliče apod. pro různé úhly dopadu světla.
SMV-2023-42: Materiály pro termální management
Králík, Tomáš
Uvedený smluvní výzkum se zabýval tzv. solárními povlaky s velmi rozdílnou schopností absorbovat viditelné záření a vyzařovat tepelné záření. Studovali jsme speciální povlaky navržené pro kosmické prostředí s vysokou emisivitou v oboru tepelného záření a současní nízkou absorpcí záření pocházejícího ze slunce nebo odraženého od kosmických těles. Tento typ povlaku je určen pro pasivní termoregulaci částí aparatur pohybující se v kosmickém prostředí. Cílem bylo stanovit tzv. totální hemisférickou emisivitu každého ze vzorků při požadovaných teplotách. U těchto povlaků bylo cílem zadavatele také vyhodnotit vliv morfologie vzorku na výslednou emisi tepelného záření. Jmenovitě jsme testovali plochý a pyramidální strukturovaný povrch podkladového materiálu. Tento unikátní výzkum si vyžádal speciální úpravu dodaných vzorků, úpravu dedikované metody pro měření emisivit a absorptivit za kryogenních teplot a také nový postup kalibrace i vyhodnocení obdržených dat. Využili jsme dříve vyvinutý stínící prstenec obvodu vzorků k zakrytí obvodu strukturovaných vzorků, což zabránilo úniku části měřeného tepelného záření. Výsledky tohoto výzkumu budou využity při návrhu kosmické mise CO2M pro monitorování emisí CO2.
SMV-2023-41: Absorptivní povlaky pro kvantové počítače
Králík, Tomáš
Uvedený smluvní výzkum se zaměřoval na termální analýzu absorptivních vrstev vytvořených anodickou oxidací na hliníkové slitině, které jsou optimalizované pro využití při extrémně nízkých teplotách. Tyto specifické vrstvy byly koncipovány pro nízkoteplotní části kvantových počítačů, kde hrají klíčovou roli při eliminaci odrazu tepelného záření z teplejších oblastí kryostatu s počítačem do oblastí s ultra nízkou teplotou. Dalšími klíčovými požadavky na tyto absorptivní vrstvy je vysoká tepelná vodivost, nezbytná pro efektivní přenos tepla v rámci kvantového počítače, dobrá mechanická stability a extrémně nízké odplyňování, aby bylo zajištěno dlouhodobé funkční chování vrstev v náročných nízkoteplotních podmínkách. Cílem tohoto výzkumu bylo nejen ověřit totální hemisférickou emisivitu tří specifických typů povlaků v rozsahu teplot od 10 K do 300 K. Emisivita je v tomto případě vhodným ukazatelem tepelně absorptivní chování vrstvy. V tomto kontextu byla provedena systematická studie emisivity těchto vrstev v celém spektru teplotních podmínek relevantních pro kvantové počítače. Tato rozsáhlá analýza měla za cíl poskytnout zjistit vhodnosti těchto absorptivních vrstev pro aplikace v oblasti nízkoteplotních technologií, s důrazem na požadavky kvantových počítačů.

Ústav přístrojové techniky : Nalezeno 1,500 záznamů.   začátekpředchozí21 - 30dalšíkonec  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.