Hlavní stránka > Výsledky hledání: recid:473015
Hledej:
 
Tipy pro vyhledávaní :: Jednoduché hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 

Warning: Requested record does not seem to exist.
Zvýšení kontrastu zobrazeni nanostruktur v STM měřením derivace profilu povrchu pomocí lock-in techniky
 Keresteš, Jiří ; Sobotík, Pavel (vedoucí práce) ; Dvořák, Filip (oponent)
Tato práce se zabývá přímým měřením derivace profilu povrchu podél řádku (dz/dx) v řádkovacím tunelovém mikroskopu (STM) metodou synchronní detekce. V rámci práce byl do stávající řídící elektroniky STM vestavěn komerční lock-in zesilovač FEMTO spolu s podpůrnými obvody umožňujícími měření derivace dz/dx. Jeho funkčnost byla otestována při měření na čistém povrchu Si(100)-2×1 a na stejném povrchu s napařenými In-Sn řetízky. Data získaná z měření derivace byla srovnána s daty z měření profilu povrchu. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English