|
|
Difuzní rtg reflexe na drsných multivrstvách
Cejpek, Petr ; Holý, Václav (vedoucí práce) ; Daniš, Stanislav (oponent)
Tato bakalářská práce se zabývá teorií difúzního rozptylu rentgenového záření na drsných multivrstvách. V úvodní kapitole shrneme některé základní principy - statistické vlastnosti rozhraní, Fresnellovy koeficienty, teorii rozptylu, atd. - které následně použijeme k odvození vztahů pro spekulární odraz a difúzní rozptyl od drsných rozhraní, která budeme považovat za náhodné fraktály. Použití těchto odvozených vztahů budeme demonstrovat při měření na multivrstvě složené z vrstev a a substrátu z minerálního skla. Naměřená data budeme fitovat na odvozené funkce pomocí programu Matlab. Drsnosti rozhraní navíc změříme pomocí AFM mikroskopu a srovnáme tyto dvě metody měření. 2SiO 2ZrO
|
|
|
Hegelova kritika Německé historickoprávní školy ve Filozofii práva
Holý, Václav ; Sobotka, Milan (vedoucí práce) ; Karásek, Jindřich (oponent)
Tato práce se zabývá otázkou dějin a dějinnosti člověka, společnosti a práva. Hegel je završitelem dlouhé tradice, a z ní se též, promítaje původní pojmový rámec do historického času, snaží vysvětlovat uvedené jevy a jejich proměny. Jádrem tohoto vysvětlení je uchopení světa jako rozumného - svět je výtvorem absolutní ideje. A více, dějiny jsou rozvojem téže ideje k sebeuskutečnění a následnému sebeuvědomění ve světě. Hegel se na tento proces dívá ze stanoviska "konce dějin", a díky tomuto předpokladu může porozumět všem zákonitostem, jež ho ovládají. Hegel nazývá svoji filozofii rád vědou či systémem a jako takovou ji lze pak ospravedlnit jen na základě jejího vlastního vysvětlovacího potenciálu. Ustředními pojmy Hegelova rozumění společnosti jsou svoboda, vůle, osoba, osobnost, jež jsou opět jen výrazy jediné ideje rozumu. Práce se zabývá jejich pojetím v Hegelově filozofii a jejich funkcí při objasňování vývoje lidské společnosti směrem k rozumnému stavu. Hegel vidí historickoprávní školu jako odpůrce tohoto vývoje, jako pokus zachránit minulé. Snažili jsme se ukázat, že historickoprávní škola je jevem mnohem složitějším. Hugo a Savigny usilovali o to zachytit tytéž změny, totéž zrození dějin a dějinnosti jako Hegel. Jejich metoda snad nebyla tak dokonalá jako Hegelova, leč poskytovala pevný základ pro...
|
|
|
Rtg difrakce a difuzní rozpyl na Heuslerových slitinách
Cejpek, Petr ; Holý, Václav (vedoucí práce)
Heuslerovy slitiny jsou v poslední době studovány pro své zajímavé vlastnosti, at' už magnetické či elektronické. Tyto vlastnosti podstatně závisejí na krysta- lové struktuře. Práce se zabývá studiem Heuslerových slitin typu A2BC. Stu- dium proběhlo jak na práškových, tak na monokrystalických vzorcích. Cílem je popsat krystalickou strukturu jednotlivých vzorků, určit obsazení mřížkových po- loh jednotlivými atomy a jejich případné rozuspořádání. Na práškových vzorcích byla změřena prášková difrakce a EXAFS. Na monokrystalických vzorcích byly změřeny klasické a v případě přítomnosti modulované struktury byly změřeny i satelitní difrakce. 1
|
|
|
Rtg difrakce a difuzní rozpyl na Heuslerových slitinách
Cejpek, Petr ; Holý, Václav (vedoucí práce)
Heuslerovy slitiny jsou v poslední době studovány pro své zajímavé vlastnosti, at' už magnetické či elektronické. Tyto vlastnosti podstatně závisejí na krysta- lové struktuře. Práce se zabývá studiem Heuslerových slitin typu A2BC. Stu- dium proběhlo jak na práškových, tak na monokrystalických vzorcích. Cílem je popsat krystalickou strukturu jednotlivých vzorků, určit obsazení mřížkových po- loh jednotlivými atomy a jejich případné rozuspořádání. Na práškových vzorcích byla změřena prášková difrakce a EXAFS. Na monokrystalických vzorcích byly změřeny klasické a v případě přítomnosti modulované struktury byly změřeny i satelitní difrakce. 1
|
|
|
High-temperature X-ray Diffractometry of Thin Layers
Valeš, Václav ; Holý, Václav (vedoucí práce) ; Jergel, Matej (oponent) ; Nižňanský, Daniel (oponent)
Tato práce je zaměřena na studium krystalografické struktury a jejích změn během termálního působení několika systémů skládajících se z nanočástic oxidů kovů. Hlavní metodou použitou v celé práci je rentgenová prášková difrakce, rozšířená o maloúhlý rozptyl rentgenového záření v případech, kdy nanočástice tvoří uspořádanou strukturu a o rentgenovou absorpční spektroskopii v případech, kdy je zapotřebí dodatečná informace o lokální krystalografické struktuře. U všech studovaných systémů byly podle krystalografických dat optimalizovány podmínky jejich přípravy pro další použití.
|
|
|
Rtg difrakce a difuzní rozpyl na Heuslerových slitinách
Cejpek, Petr ; Holý, Václav (vedoucí práce) ; Kriegner, Dominik (oponent)
Heuslerovy slitiny jsou v poslední době studovány pro své zajímavé vlastnosti, at' už magnetické či elektronické. Tyto vlastnosti podstatně závisejí na krysta- lové struktuře. Práce se zabývá studiem Heuslerových slitin typu A2BC. Stu- dium proběhlo jak na práškových, tak na monokrystalických vzorcích. Cílem je popsat krystalickou strukturu jednotlivých vzorků, určit obsazení mřížkových po- loh jednotlivými atomy a jejich případné rozuspořádání. Na práškových vzorcích byla změřena prášková difrakce a EXAFS. Na monokrystalických vzorcích byly změřeny klasické a v případě přítomnosti modulované struktury byly změřeny i satelitní difrakce. 1
|
|
|
Diffuse x-ray scattering from GaN epitaxial layers
Barchuk, Mykhailo ; Holý, Václav (vedoucí práce) ; Caha, Ondřej (oponent) ; Pietsch, Ulrich (oponent)
Reální struktura heteroepitaxních vrstev GaN a AlGaN je studována pomocí difúzního rozptylu rtg záření. Nově vyvinutá metoda založená na Monte Carlo simulaci umožňuje určovat hustotu threading dislokací ve vrstvách c-GaN a vrstevných chyb ve vrstvách a-GaN. Hustoty defektů ze simulací Monte Carlo jsou srovnány s hodnotami získanými standardními metodami (transmisní elektronová mikroskopie, metalografie leptových důlků). Výhody a omezení našeho postupu jsou podrobně diskutovány; přesnost metody je stanovena jako 15%. Ukázali jsme, že naše metoda je spolehlivý nástroj pro určení hustot threading dislokací a vrstevných chyb ve vrstvách GaN.
|
|
|
Study of the structure of ferromagnetic semiconductors by x-ray scattering methods
Horák, Lukáš ; Holý, Václav (vedoucí práce) ; Mikulík, Petr (oponent) ; Stangl, Julian (oponent)
Studovali jsme epitaxní vrstvy arsenidu gallia a manganu různými metodami RTG rozptylu. Protože polohy Mn dopantu v hostitelské mřížce arsenidu gallia jsou zcela zásadní pro magnetické vlastnosti tohoto materiálu, zaměřili jsme se hlavně na vývoj laboratorní difrakční metody schopné identifikovat mangan v konkrétních krystalografických polohách. Z naměřené difraktované intenzity rozložené podél useklic je možné dovodit hustotu Mn intersticiálů ve dvou neekvivalentních krystalografických polohách. Žíháním je možno snižit hustotu Mn intersticiálů. Demonstrovali jsme naši metodu na epitaxní vrstvě, která prošla několikerým žíháním. Po každém z nich byl určen hloubkový profil hustoty intersticiálů. Proces žíhání byl simulován řešením drift-difuzních rovnic. Z porovnání s experimentálně určenými koncentracemi intersticiálů jsme odhadli difusivitu Mn intersticiálů v mřížce arsendiu gallia. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)
|
|
|
Difuzní rtg reflexe na drsných multivrstvách
Cejpek, Petr ; Holý, Václav (vedoucí práce) ; Daniš, Stanislav (oponent)
Tato bakalářská práce se zabývá teorií difúzního rozptylu rentgenového záření na drsných multivrstvách. V úvodní kapitole shrneme některé základní principy - statistické vlastnosti rozhraní, Fresnellovy koeficienty, teorii rozptylu, atd. - které následně použijeme k odvození vztahů pro spekulární odraz a difúzní rozptyl od drsných rozhraní, která budeme považovat za náhodné fraktály. Použití těchto odvozených vztahů budeme demonstrovat při měření na multivrstvě složené z vrstev a a substrátu z minerálního skla. Naměřená data budeme fitovat na odvozené funkce pomocí programu Matlab. Drsnosti rozhraní navíc změříme pomocí AFM mikroskopu a srovnáme tyto dvě metody měření. 2SiO 2ZrO
|
|
|
Theoretical studies of rolled-up and wrinkled nanomembranes
Čendula, Peter ; Holý, Václav (vedoucí práce) ; Fedorchenko, Alexander I. (oponent) ; Onck, Patrick N. (oponent)
Názov práce: Teoretické štúdie rolovaných a zvlnených nanomembrán Autor: Mgr. Peter Cendula Katedra: Katedra fyziky kondenzovaných látok Vedúci dizertačnej práce: Prof. Dr. Oliver G. Schmidt, Prof. RNDr. Václav Holý, CSc. Abstrakt: Táto dizertačná práca sa zaoberá tromi blízkymi témami z oblasti rolo- vaných a zvlnených nanomembrán. Najprv zhrnieme klasické poznatky z mechanickej teórie tenkých dosiek, ktoré budeme používať pri popise nanomembrán. V prvej časti študujeme relaxáciu vnútorného napätia membrány po jej uvoľnení od substrátu pomo- cou odleptania pomocnej medzivrstvy. Súperenie medzi rolovaním do trubičky alebo zvlnením je kvalitatívne vysvetlené energetickou úvahou. Podobný model je použitý aj na určenie maximálneho počtu otáčok rolovanej trubičky. V druhej časti teoreticky a experimentálne ukážeme ako rolovanie zvlnenej obdĺžnikovej vrstvy zvýhodňuje for- movanie trubičiek na plochej hrane zvlnenej vrstvy. To umožňuje precíznu kontrolu pozície trubičky na substráte. V tretej časti študujeme rozdelenie energie optického prechodu kvantovej jamy pozdĺž zvlnenej membrány ako následok meniacej sa ohy- bovej deformácie. Tento efekt môže byť vhodný pre optické detektory a žiariče citlivé na deformáciu. Dôsledkom ohybovej deformácie je tiež lokalizácia stavu elektrónu a diery v rôznych miestach pozdĺž...
|
host ::
RSS.