|
|
Metodika stanovení velikosti detekovaného signálu v EREM
Potoma, Jaroslav ; Jirák, Josef (oponent) ; Čudek, Pavel (vedoucí práce)
Předkládaná práce se zabývá problematikou environmentální rastrovací elektronové mikroskopie (EREM) a detekcí signálních elektronů pomocí ionizačního detektoru.Hlavní náplní této práce je porovnání osciloskopické metody stanovení velikosti signálu s metodou vyhodnocování velikosti signálu z úrovně šedi ze snímků standartních vzorků. Vyhodnocení výhod a nevýhod obou metod.
|
|
|
Stanovení chemického složení mosazného vzorku rentgenovou fluorescenční metodou
Tomanová, Michaela ; Čudek, Pavel (oponent) ; Vaněk, Jiří (vedoucí práce)
Metoda rentgenové fluorescenční spektroskopie je využívána pro rozpoznání prvků obsažených v plynných, kapalných nebo pevných látkách, včetně jejich hmotnostních poměrů. Analýza je založena na specifičnosti sekundárního záření, jež jednotlivé prvky vydávají, umožňující jejich rozeznání. Distinkci jednotlivých záření lze přirovnat k otiskům prstů. Kromě kvalitativních a kvantitativních možností lze také metodu využít k měření tloušťky kovů a slitin. Laboratorní analýza má oproti přenosným zařízením, která jsou rovněž dostupná, širší možnosti využití. Měření v laboratorním prostředí je realizováno dvěma metodami – vlnově disperzní fluorescenční spektrometrií – WDXRF, a energo disperzní fluorescenční spektrometrií – EDXRF. V praktické části diplomové práce byl měřen mosazný vzorek s příměsí olova prostřednictvím metody EDXRF. K analýze bylo použito nové rentgenové zařízení firmy Leybold, které bude sloužit k výuce nižších ročníků vysoké školy. V rámci diplomové práce pak bylo připraveno měřící pracoviště a laboratorní úloha, jejíž cílem bylo zjistit hmotnostní podíly prvků obsažených ve vzorku slitiny mosazi.
|
|
|
Vyhlazovací box pro 3D výtisky FDM 3D tiskáren
Dubský, Jan ; Čudek, Pavel (oponent) ; Bayer, Robert (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá návrhem zařízení, které by sloužilo k vyhlazování 3D výtisků z různých materiálů FDM 3D tiskáren. Vysvětluje princip 3D tisku a popi-suje technologie, které jsou v 3D tisku využívány. V práci se nachází přehled užívaných tiskových materiálů a některých vybraných organických rozpouštědel. Popisuje metody vyhlazování v parách a vyhlazování aerosolem, které mohou být použity pro vyhlazování povrchu 3D výtisků. Metoda vyhlazování v parách byla experimentálně vyzkoušena pro rozpouštědla: aceton, dichlormethan, chloroform a tetrahydrofuran. Metoda vyhlazování aerosolem užívala roztoku acetonu a dichlormethanu v poměru 1:1. Obě metody byly testovány na vzorcích z materiálů PLA, ABS, PETG a SBS. Práce popisuje návrh vyhlazovacího zařízení na 3D výtisky s ohledem na chemickou kompatibilitu užitých konstrukčních materiálů a snadnou obsluhu zařízení.
|
|
|
Návrh a konstrukce jednoduchého hudebního syntezátoru
Ondryáš, Radek ; Čudek, Pavel (oponent) ; Čech, Ondřej (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá tématem hudebních syntezátorů. Práce poskytuje obecný popis syntezátorů, jejich historie, typů a důležitých součástek. Další částí práce je popis zvukového čipu Texas Instruments SN76477, jeho funkcionality a způsoby ovládání. Hlavní částí této práce je kolem čipu SN76477 navrhnout a realizovat syntezátor a vyrobit pro něj krabici z laserem řezané překližky
|
|
|
Polovodičové struktury, metoda nábojového sběru
Golda, Martin ; Čudek, Pavel (oponent) ; Špinka, Jiří (vedoucí práce)
Práce pojednává o studiu struktur polovodivého křemíku. Popisuje vlastnosti tohoto prvku a vytvoření polovodiče typu P a N, dále se zabývá typy poruch krystalické mřížky. Zabývá se popisem metod sledování poruch v polovodiči, stanovení vlastností polovodičů tj. metodou EBIC, EBIV a CC, které jsou využívány k analýze polovodičových součástek a materiálů. Zjišťování vlastností křemíkových součástek probíhá pomoci generace nosičů náboje ve vzorku, vloženého do komory rastrovacího elektronového mikroskopu dopadajícími vyskoenergiovými elektrony a následným sběrem naindukovaného náboje na PN přechodu. Pomocí dat získaných metodou EBIC a CC byly vyhodnoceny difúzní délka a doba života elektronů.
|
|
|
Scintilační detektor sekundárních elektronů pro VP SEM
Račanský, David ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
V první části této práce je uvedeno teoretické seznámení se základy rastrovací elektronové mikroskopie, pracující v oblastí vyšších tlaků, neboli VP SEM, včetně detekce sekundárních elektronů (SE) s využitím scintilačního detektoru. Praktická část je zaměřena na predikci, proměření a následném stanovení optimálního nastavení pracovních podmínek ve vakuovém systému elektrod scintilačního detektoru (SD), s důrazem na konfigurační nastavení průměrů otvorů v clonkách C1 a C2. Druhým úkolem bylo ověřit vliv změny pracovní vzdálenosti mezi vzorkem a detektorem a následně doporučit optimální nastavení pro další práci.
|
|
|
Scintilační detektor sekundárních elektronů pro environmentální rastrovací elektronový mikroskop
Odehnal, Adam ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Práce obsahuje teoretické poznatky z oblasti rastrovací elektronové mikroskopie. Je popsána konstrukce, princip činnosti a signály vzniklé interakcemi mezi svazkem primárních elektronů a vzorkem. Dále je vysvětlena nejrozšířenější metoda detekce sekundárních elektronů pomocí scintilačního detektoru. Další kapitoly se věnují jednomu z posledních vývojových stádií rastrovací elektronové mikroskopie, a to environmentální rastrovací elektronovou mikroskopií. Praktická část se zabývá vyhodnocováním závislostí velikosti signálu detekovaného scintilačním detektorem na tlaku vodních par v komoře vzorku. Je zde posuzována vhodná velikost napětí přiložených na elektrody scintilačního detektoru pro optimalizování detekce.
|
|
|
Elektrické vlastnosti pokožky
Hellová, Miriam ; Čudek, Pavel (oponent) ; Špinka, Jiří (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá vlastnostmi lidské kůže, možnostmi měření její impedance a návrhem vhodné elektrody pro měření. Pro modelování byly použity různé náhradní modely impedance kůže a popsány jevy vznikající na rozhraní mokrá elektroda – elektrolyt, které významným způsobem měření impedance ovlivňují. Byl proveden popis funkce suché planární elektrody a její návrh pro ověřovací měření. Kontrolní měření bylo provedeno s pomocí vývojového kitu EVAL-AD5933EBZ ve frekvenčním rozsahu 5 kHz až 100 kHz na třech různých místech lidského těla a výsledky byly zobrazeny v grafech ve formě absolutní hodnoty impedance a její fáze. Správnost naměřených hodnot byla ověřena srovnáním s výsledky jiné práce, používající jiný typ elektrody. Hlavním cílem bylo ověření možnosti použít geometrie suché planární elektrody v kombinaci s dostupným vývojovým kitem pro jednoduché diagnostické aplikace.
|
|
|
Scintilační detektor sekundárních elektronů pro REM pracující při vyšším tlaku v komoře vzorku
Kozelský, Adam ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Tato práce obsahuje teoretický popis základních vlastností a principu elektronové mikroskopie, se zaměřením na rastrovací elektronovou mikroskopii. Popisuje konstrukční řešeni mikroskopu, interakce probíhající po dopadu elektronového svazku na vzorek, především pak zpětně odražené a sekundární elektrony. Další kapitoly se zabývají historickým vývojem elektronové mikroskopie a environmentální elektronovou mikroskopii. Praktická část se zabývá problematikou detekce sekundárních elektronů scintilačním detektorem v rastrovacím elektronovém mikroskopu pracujícím při vyšším tlaku v komoře vzorku. Konkrétně optimalizaci napětí na sběrné mřížce a proměření tlakových závislostí.
|
|
|
Metoda napěťového kontrastu v EREM
Krňávek, Martin ; Čudek, Pavel (oponent) ; Jirák, Josef (vedoucí práce)
Tato práce obsahuje teoretický popis základních vlastností a principu elektronové mikroskopie, se zaměřením na environmentální rastrovací elektronovou mikroskopii. Popisuje funkci mikroskopu, interakce probíhající po dopadu elektronového svazku na vzorek, především pak vznik zpětně odražených a sekundárních elektronů a metodu napěťového kontrastu. Praktická část se zabývá problematikou napěťového kontrastu pro sledování rozložení elektrických potenciálů na površích polovodičových součástek a stanovuje vhodné pracovní podmínky pro pozorování napěťového kontrasu pomocí scintilačního detektoru sekundárních elektronů.
|
host ::
RSS.