| |
|
Non-Thermal Crystallization of TiO2 Thin Films using Supercritical Carbon Dioxide Modified by Ethanol-Water Mixture.
Sajfrtová, Marie ; Cerhová, Marie ; Jandová, Věra ; Dřínek, Vladislav ; Matějová, L. ; Daniš, S.
In this work, the scCO2 modified by mixture of water and ethanol was used for a preparation of crystalline and pure nanostructured TiO2 thin films in one step processing. All the experiments were performed over precursor titania thin films prepared by reverse micelles assisted sol-gel method, using hardly removable nonionic surfactant Triton X-114, however, forming uniform nano-domains. The effect of temperature (40-150 °C), pressure (10-30 MPa), modifier composition \n(20, 50 and 80 % w/w of water in ethanol) and concentration inscCO2 (5-15 wt. %) and consumed amount of solvent (50-200 g) on microstructure and purity\nof TiO2 thin films was thoroughly studied by means of Raman spectroscopy, X-ray diffraction, and contact angle measurements.
Plný tet: SKMBT_C22018100509361 - PDF Plný text: content.csg - PDF
|
| |
| |
|
Určení hmotnostního podílu amorfní fáze pomocí rtg.difrakce
Málek, Tomáš ; Daniš, Stanislav (vedoucí práce) ; Kužel, Radomír (oponent)
Používání rentgenové difrakce jako metody kvantitativní analýzy sebou nese komplikaci v podobě příspěvku amorfní fáze do pozadí naměřeného signálu, který ovlivňuje výsledné hodnoty. Tento příspěvek často není možné zanedbat, a proto je vhodné použít metodu, která umožní separaci tohoto příspěvku a případně určit podíl amorfní fáze v měřeném vzorku. Ačkoliv se rentgenová difrakce používá téměř výlučně pro měření krystalických vzorků, v případě měření práškové difrakce prakticky nelze vyloučit znečištění vzorku amorfní fází, která se v menší či větší míře bude vyskytovat v každém polykrystalickém vzorku. V této práci bude snaha nalézt metodu, či kombinaci metod, které umožňují určit podíl amorfní fáze, který potom může být využit k očištění výsledků kvantitativní analýzy od příspěvku amorfní fáze.
|
|
Strukturní změny v intermetalických sloučeninách
Doležal, Petr ; Prchal, Jiří (vedoucí práce) ; Daniš, Stanislav (oponent)
Předkládaná práce se zabývá studiem strukturního přechodu v intermetalických sloučeninách (Ce,La)Pd2(Al,Ga)2 pomocí práškové rentgenové difrakce za různých teplot a pomocí objemových měření. Výsledky práškové difrakce v pokojové teplotě potvrdily u sloučenin výskyt strukturního typu CaBe2Ge2 (prostorová grupa P4/nmm). Všechny sloučeniny v nízkých teplotách přechází do struktury s nižší symetrií, kterou lze popsat pomocí ortorombické grupy Cmma. Typ strukturní transformace odpovídá přechodu prvního druhu. Strukturní přechod se neodehrává při jedné teplotě, ale v teplotním intervalu ~ 20 K v němž spolu jednotlivé fáze koexistují a postupně přechází jedna v druhou. Působením hydrostatického tlaku se strukturní přechod posouvá do vyšších teplot. Ačkoliv jsou nízkoteplotní struktury stejného typu, liší se diskontinuitou v mřížových parametrech, která je větší u sloučenin obsahujících Ga než u sloučenin s Al, což vede k odlišné anomálii v měrném elektrickém odporu. Aplikací hydrostatického tlaku > 0,6 GPa na sloučeninu CePd2Al2 vede k tlakem indukované změně nízkoteplotní struktury. Strukturní přechod lze také pozorovat jako anomálii v datech z objemových měření (měrná tepelná kapacita, magnetizace, elektrický odpor).
|
|
Difuzní rtg reflexe na drsných multivrstvách
Cejpek, Petr ; Holý, Václav (vedoucí práce) ; Daniš, Stanislav (oponent)
Tato bakalářská práce se zabývá teorií difúzního rozptylu rentgenového záření na drsných multivrstvách. V úvodní kapitole shrneme některé základní principy - statistické vlastnosti rozhraní, Fresnellovy koeficienty, teorii rozptylu, atd. - které následně použijeme k odvození vztahů pro spekulární odraz a difúzní rozptyl od drsných rozhraní, která budeme považovat za náhodné fraktály. Použití těchto odvozených vztahů budeme demonstrovat při měření na multivrstvě složené z vrstev a a substrátu z minerálního skla. Naměřená data budeme fitovat na odvozené funkce pomocí programu Matlab. Drsnosti rozhraní navíc změříme pomocí AFM mikroskopu a srovnáme tyto dvě metody měření. 2SiO 2ZrO
|
|
Studium defektů v gradovaných tenkých vrstvách SiGe/Si pomocí rozptylu rtg.záření
Endres, Jan ; Daniš, Stanislav (vedoucí práce) ; Holý, Václav (oponent)
Cílem předkládané práce je studium defektů v gradovaných tenkých vrstvách Si1xGex/Si. Převládajícím typem defektů v takovýchto vrstvách jsou mist dislokace. Přítomnost defektů v látce vede ke vzniku difuzně rozptýleného záření, které bylo měřeno pomocí difraktometru s vysokým rozlišením. Z naměřených map reciprokého prostoru bylo určeno rozložení mist dislokací ve vrstvách. Rozložení mist dislokací je diskutováno v rámci dvou modelů: rovnovážného vycházejícího z nalezení minima energie a kinetického uvažujícího tepelně aktivovaný pohyb dislokací. Měřené mapy reciprokého prostoru byly porovnány se simulacemi provedenými pomocí kinematické teorie rozptylu rtg. záření.
|
| |
| |