Original title: Metody pro testování analogových obvodů
Translated title: Methods for testing of analog circuits
Authors: Kincl, Zdeněk ; Vlček, Čestmír (referee) ; Husák, Miroslav (referee) ; Kolka, Zdeněk (advisor)
Document type: Doctoral theses
Year: 2013
Language: eng
Publisher: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract: [eng] [cze]
Práce se zabývá metodami pro testování lineárních analogových obvodů v kmitočtové oblasti. Cílem je navrhnout efektivní metody pro automatické generování testovacího plánu. Snížením počtu měření a výpočetní náročnosti lze výrazně snížit náklady za testování. Práce se zabývá multifrekveční parametrickou poruchovou analýzou, která byla plně implementována do programu Matlab. Vhodnou volbou testovacích kmitočtů lze potlačit chyby měření a chyby způsobené výrobními tolerancemi obvodových prvků. Navržené metody pro optimální volbu kmitočtů byly statisticky ověřeny metodou MonteCarlo. Pro zvýšení přesnosti a snížení výpočetní náročnosti poruchové analýzy byly vyvinuty postupy založené na metodě nejmenších čtverců a přibližné symbolické analýze. The thesis deals with methods for testing of linear analog circuits in the frequency domain. The goal is to develop new efficient methods for automatic test plan generation. To reduce test costs a minimum number of measurements as well as less computational demands are the fundamental aims. The thesis is focused on the multi-frequency parametric fault diagnosis which was fully implemented in the Matlab program. The fundamental problem consists in selection of test frequencies which can reduce the influences of measurement errors and errors caused by tolerances of well-working components. The proposed methods for test frequency selection were statistically verified by the MonteCarlo method. To improve the accuracy and reduce the computational complexity of fault diagnosis, the methods based on least-square techniques and approximate symbolic analysis were presented.
Keywords: Analogové obvody; analýza testovatelnosti; ATPG; automatické generování testovacího plánu; DfT.; modelování poruch; multifrekvenční parametrická poruchová analýza; návrh pro snadnou testovatelnost; přeurčená soustava rovnic; přibližná symbolická analýza; redukce parametrů; volba testovacích kmitočtů; Analog circuits; approximate symbolic analysis; ATPG; automatic test pattern generation; design for testability; DfT.; fault modelling; multi-frequency parametric fault diagnosis; overdetermined system; parameter reduction; test frequency selection; testability analysis

Institution: Brno University of Technology (web)
Document availability information: Fulltext is available in the Brno University of Technology Digital Library.
Original record: http://hdl.handle.net/11012/24908

Permalink: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-609410


The record appears in these collections:
Universities and colleges > Public universities > Brno University of Technology
Academic theses (ETDs) > Doctoral theses